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电子探针分析微粒样品的校正方法
被引量：
3
1
作者
杨业智
朱绫
刘涛
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1989年第2期59-66,共8页
本文将电子探针定量分析中的一个厚块状样品的校正程序,扩展为微粒样品的校正程序。修改后的程序,不但仍可用于厚块状样品的校正,而且对不同直径的微粒样品也可进行校正计算。文中比较了几种不同的校正程序对微粒样品的校正计算结果。直...
本文将电子探针定量分析中的一个厚块状样品的校正程序,扩展为微粒样品的校正程序。修改后的程序,不但仍可用于厚块状样品的校正,而且对不同直径的微粒样品也可进行校正计算。文中比较了几种不同的校正程序对微粒样品的校正计算结果。直径1-4μm的硫化铁微粒和直径0.4-4μm的五元钴基合金微粒,采用本文提示的程序,其校正精确度分别优于4％和10％,说明修改后的程序对微粒样品的校正是合适的。
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关键词
电子探针
分析
微粒样品
校正
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职称材料
针状、棒状颗粒样品的粒度分析方法
2
作者
陈冠群
方盛国
秦会斌
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1996年第6期536-536,共1页
针状、棒状颗粒样品的粒度分析方法陈冠群方盛国秦会斌（四川师范大学分析测试中心）（成都电子科技大学材料分析中心）在电子显微镜下观察到的微粒样品有球状、粒状、椭球状、针状、棒状、片状等等［１］，传统的粒度分析方法都是用直...
针状、棒状颗粒样品的粒度分析方法陈冠群方盛国秦会斌（四川师范大学分析测试中心）（成都电子科技大学材料分析中心）在电子显微镜下观察到的微粒样品有球状、粒状、椭球状、针状、棒状、片状等等［１］，传统的粒度分析方法都是用直径来描述其几何尺寸，尽管有些粒度分...
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关键词
粒度分析
电镜
微粒样品
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职称材料
题名
电子探针分析微粒样品的校正方法
被引量：
3
1
作者
杨业智
朱绫
刘涛
机构
武汉大学分析测试中心
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1989年第2期59-66,共8页
文摘
本文将电子探针定量分析中的一个厚块状样品的校正程序,扩展为微粒样品的校正程序。修改后的程序,不但仍可用于厚块状样品的校正,而且对不同直径的微粒样品也可进行校正计算。文中比较了几种不同的校正程序对微粒样品的校正计算结果。直径1-4μm的硫化铁微粒和直径0.4-4μm的五元钴基合金微粒,采用本文提示的程序,其校正精确度分别优于4％和10％,说明修改后的程序对微粒样品的校正是合适的。
关键词
电子探针
分析
微粒样品
校正
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
针状、棒状颗粒样品的粒度分析方法
2
作者
陈冠群
方盛国
秦会斌
机构
四川师范大学分析测试中心
成都电子科技大学材料分析中心
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1996年第6期536-536,共1页
文摘
针状、棒状颗粒样品的粒度分析方法陈冠群方盛国秦会斌（四川师范大学分析测试中心）（成都电子科技大学材料分析中心）在电子显微镜下观察到的微粒样品有球状、粒状、椭球状、针状、棒状、片状等等［１］，传统的粒度分析方法都是用直径来描述其几何尺寸，尽管有些粒度分...
关键词
粒度分析
电镜
微粒样品
分类号
TB92 [机械工程—测试计量技术及仪器]
TN16 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
电子探针分析微粒样品的校正方法
杨业智
朱绫
刘涛
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1989
3
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职称材料
2
针状、棒状颗粒样品的粒度分析方法
陈冠群
方盛国
秦会斌
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1996
0
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职称材料
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