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用微波多端口技术测量粉末状材料复电磁参数被引量：6: 1; 作者郭利强焦永昌唐家明《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第z1期27-29,共3页; 介绍了测量双端口网络散射参数的微波多端口技术,提出了测量粉末状物质复电磁参数的级联网络分解法,并指出了与测试方法相关的端面相位修正措施。给出了四种典型粉末状物质的测试结果。; 关键词微波多端口粉末状材料复电磁参数级联网络分解法; 在线阅读下载PDF 职称材料

一种测量天线罩微波电厚度的简便方法被引量：6: 2; 作者韦高许家栋 +1 位作者温浩李建周《微波学报》 CSCD 北大核心 2005年第4期51-53,66,共4页; 提出了一种天线罩电厚度检测的新方法-微波反射式电厚度测量,给出了该方法的基本原理以及相应的测量系统。与通常天线罩壁电厚度的双探头插入相移测量方法相比,采用单探头测量天线罩壁复反射系数,通过复反射系数相位的变化了解天线罩壁... 展开更多; 关键词微波测量天线罩电厚度检测微波多端口反射计厚度测量天线罩简便方法微波复反射系数双探头厚度检测测量系统测量方法; 在线阅读下载PDF 职称材料

矩形波导模式谱图的一般表达式被引量：2: 3; 作者郭利强焦永昌唐家明《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第z1期30-31,共2页; 结合微波多端口技术与材料测试技术研究过程中遇到的高次模问题,作了初步的分析与实验研究,讨论了矩形波导模式谱图的一般表达式,并提出了一些看法供学界讨论。; 关键词矩形波导高次模模式谱图微波多端口; 在线阅读下载PDF 职称材料

纳米金属薄膜材料电磁参数测量方法: 4; 作者韦高许家栋 +1 位作者温浩李建周《微波学报》 CSCD 北大核心 2005年第6期39-42,共4页; 提出了一种基于波导法的纳米薄膜材料电磁参数测量的新方法,给出了该方法的基本原理。与常规波导测量方法相比,该方法根据纳米金属薄膜材料的特点,简化了求解算法,只需测出加载薄膜波导开路与短路时的复反射系数,即可求出薄膜的介电常... 展开更多; 关键词微波测量纳米金属薄膜电磁参数测量微波多端口反射计; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名用微波多端口技术测量粉末状材料复电磁参数被引量：6: 1; 作者郭利强焦永昌唐家明; 机构西安电子科技大学; 出处《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第z1期27-29,共3页; 基金国家自然科学基金资助项目(60371014)。; 文摘介绍了测量双端口网络散射参数的微波多端口技术,提出了测量粉末状物质复电磁参数的级联网络分解法,并指出了与测试方法相关的端面相位修正措施。给出了四种典型粉末状物质的测试结果。; 关键词微波多端口粉末状材料复电磁参数级联网络分解法; Keywords Microwave multi-port Powdered material Complex electro-magnetic parameters Cascade network decomposing; 分类号 TH7-55 [机械工程—精密仪器及机械]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名一种测量天线罩微波电厚度的简便方法被引量：6: 2; 作者韦高许家栋温浩李建周; 机构西北工业大学电子信息学院; 出处《微波学报》 CSCD 北大核心 2005年第4期51-53,66,共4页; 文摘提出了一种天线罩电厚度检测的新方法-微波反射式电厚度测量,给出了该方法的基本原理以及相应的测量系统。与通常天线罩壁电厚度的双探头插入相移测量方法相比,采用单探头测量天线罩壁复反射系数,通过复反射系数相位的变化了解天线罩壁电厚度的相对变化,大大简化了设备,降低了测量时对探头机械定位精度的要求,使测量过程简单易行。由于采用单探头,该方法还可测量双探头无法测量的复杂天线罩顶部位。; 关键词微波测量天线罩电厚度检测微波多端口反射计厚度测量天线罩简便方法微波复反射系数双探头厚度检测测量系统测量方法; Keywords Microwave measurement, Electrical thickness measurement of radom, Microwave reflectometer; 分类号 TN820 [电子电信—信息与通信工程]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名矩形波导模式谱图的一般表达式被引量：2: 3; 作者郭利强焦永昌唐家明; 机构西安电子科技大学; 出处《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第z1期30-31,共2页; 基金国家自然科学基金资助项目(60371014)。; 文摘结合微波多端口技术与材料测试技术研究过程中遇到的高次模问题,作了初步的分析与实验研究,讨论了矩形波导模式谱图的一般表达式,并提出了一些看法供学界讨论。; 关键词矩形波导高次模模式谱图微波多端口; Keywords Rectangle waveguide High order mode Mode-spectrogram Microwave multi-port; 分类号 TH7-55 [机械工程—精密仪器及机械]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名纳米金属薄膜材料电磁参数测量方法: 4; 作者韦高许家栋温浩李建周; 机构西北工业大学电子信息学院; 出处《微波学报》 CSCD 北大核心 2005年第6期39-42,共4页; 文摘提出了一种基于波导法的纳米薄膜材料电磁参数测量的新方法,给出了该方法的基本原理。与常规波导测量方法相比,该方法根据纳米金属薄膜材料的特点,简化了求解算法,只需测出加载薄膜波导开路与短路时的复反射系数,即可求出薄膜的介电常数与导磁率,使测量过程简单高效并具有较高的精度。; 关键词微波测量纳米金属薄膜电磁参数测量微波多端口反射计; Keywords Microwave measurement, Permittivity and permeability measurement of nanometal film, Microwave multi-port reflectometer; 分类号 TM937 [电气工程—电力电子与电力传动]; 在线阅读下载PDF 职称材料