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开口同轴探头测量微波集成电路基片的复介电常数 被引量:5
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作者 张 思 钮茂德 徐得名 《微波学报》 CSCD 北大核心 2002年第1期57-63,共7页
本文论述了开口同轴(无外加法兰)非破坏测量微波集成电路基片复介电常数的方法。文中阐明了开口同轴FDTD法的建模与测量原理。由于FDTD法建模是一种全波分析方法,出此该模型相当准确。在S和X波段测量了聚四氟乙烯材料和另一种介质基... 本文论述了开口同轴(无外加法兰)非破坏测量微波集成电路基片复介电常数的方法。文中阐明了开口同轴FDTD法的建模与测量原理。由于FDTD法建模是一种全波分析方法,出此该模型相当准确。在S和X波段测量了聚四氟乙烯材料和另一种介质基片的复介电常数,所得结果与它们的典型值非常吻合。开口同轴法测量具有非破坏性,适于现场测量,而且具有设备简单、操作方便、测量精度高等优点。 展开更多
关键词 开口同轴法 微波集成电路基片 非破坏测量 介电常数
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高功率MPCVD金刚石膜透波窗口材料制备研究 被引量:11
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作者 于盛旺 刘艳青 +3 位作者 唐伟忠 申艳艳 贺志勇 唐宾 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第4期896-899,共4页
使用自行研制的椭球谐振腔式MPCVD装置,以H2-CH4为气源,在沉积功率8 kW条件下,对大面积金刚石膜透波窗口材料进行了制备研究。分别使用扫描电镜、Raman、分光光谱仪、热导率测试仪和空腔谐振法对金刚石膜的表面形貌、品质、光透过率、... 使用自行研制的椭球谐振腔式MPCVD装置,以H2-CH4为气源,在沉积功率8 kW条件下,对大面积金刚石膜透波窗口材料进行了制备研究。分别使用扫描电镜、Raman、分光光谱仪、热导率测试仪和空腔谐振法对金刚石膜的表面形貌、品质、光透过率、热导率和微波复介电常数等进行了表征及测试。实验结果表明,使用自行研制的椭球谐振腔式MPCVD装置,能够满足较高功率下高品质金刚石膜的快速沉积;抛光后的自支撑金刚石膜具有高的光学透过率和热导率,在23~36 GHz频率范围内微波介电损耗小于1×10-4,有着良好的微波介电性能,是较为理想的透波窗口材料。 展开更多
关键词 金刚石膜 MPCVD 微波复介电常数 透波窗口材料
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