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基于MSAP工艺下三维封装刚挠结合类载板制作技术研究
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作者 刘尧 乔元 +1 位作者 廉治华 樊廷慧 《印制电路信息》 2025年第S1期217-227,共11页
随着电子产品功能越来越多元化,向轻薄短小发展,随之三维封装刚挠印制电路板的线宽线距≤40μm,向类载板方向发展。本文将以三维封装类载板制作技术为研究对象,基于挠性覆铜板和绝缘积层膜RCC材料为物料基础。以挠性覆铜板微孔导通技术... 随着电子产品功能越来越多元化,向轻薄短小发展,随之三维封装刚挠印制电路板的线宽线距≤40μm,向类载板方向发展。本文将以三维封装类载板制作技术为研究对象,基于挠性覆铜板和绝缘积层膜RCC材料为物料基础。以挠性覆铜板微孔导通技术、绝缘积层膜RCC材料压合积层技术及揭盖工艺技术为研究对象。展开实验测试,最终采用单面激光钻孔及填孔、高温高压固化绝缘积层膜、预先分离式揭盖工艺突破产品加工技术难点。同时结合已有的载板MASP加工技术,开发出基于MSAP工艺下三维封装刚挠结合类载板。 展开更多
关键词 三维封装刚挠结合类载板 微孔导通技术 绝缘积层膜RCC 揭盖工艺
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