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题名基于D/A转换器的工艺波动表征方法的研究
被引量：1
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作者
刘博
张雷鸣
王金婵
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机构
河南科技大学
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出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2015年第3期117-121,共5页
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基金
河南省科技厅国际科技合作计划项目(144300510037)
河南省教育厅科学技术重点研究项目(14B510004)
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文摘
提出了一种利用微分非线性误差参数(DNL)表征单管MOSFET工艺波动特性的方法,并建立了其数学关系表达式.该表征方法通过测试多组90nm/1.2V标准CMOS生产工艺的D/A转换器工艺样片的驱动管输出电压和电流,利用微分非线性误差作为衡量工艺波动程度的指标参数,得到反映输出驱动管阵列受工艺波动影响的MOS晶体管的器件失配系数ΔD.通过建立两者的数学关系式,量化描述了由工艺波动造成的输出驱动管电流失配,以及该失配对于DAC输出特性变化的影响.由实际测试分析结果可知,该表征方法具有较强的实用价值,能够为模拟IC设计者预测电路性能提供理论依据与技术指导.
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关键词
工艺波动
微分非线性误差
失配系数
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Keywords
process variation
Differential Non-Linearity(DNL)
mismatch factor
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分类号
TN792
[电子电信—电路与系统]
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题名一种新颖的数模转换器静态参数内建自测试方法
被引量：1
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作者
程梦璋
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机构
华侨大学
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出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2013年第10期127-129,133,共4页
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基金
福建省自然科学基金资助项目(Z0516008)
华侨大学科研启动费项目(09BS403)
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文摘
提出了一种新颖的数模转换器(DAC)静态参数内建自测试(BIST)方法.该方法采用斜坡信号发生器和两个参考电压作为标准信号源和误差极限电压,测试DAC的四个主要的静态参数:失调误差(offset),增益误差(gain error),积分非线性误差(INL)和微分非线性误差(DNL),有效地节省了参考源的数目.静态参数计算的优化以及测试器件的共享使得BIST电路所占芯片面积大大减小.仿真结果表明该方法是一种简单的测试DAC静态误差的内建自测试结构.
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关键词
内建自测试
积分非线性误差
微分非线性误差
静态误差
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Keywords
built-in self-test
integral non-linearity
differential non-linearity
static error
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分类号
TN402
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名A/D转换器INL、DNL的一种快速测试方法
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作者
马明朗
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机构
北京微电子技术研究所
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出处
《中国集成电路》
2003年第52期30-32,共3页
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文摘
本文介绍了一种 A/D 转换器静态性能参数指标 INL、DNL 的测试方法,该方法更加快速有效,本文对测试原理和方法也进行了描述。
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关键词
A/D转换器
积分非线性误差
微分非线性误差
立方图
测试原理
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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