TN223 2000064071显微光子计数成像系统的噪声抑制及定量测量标准的确立=Noise research and quantitative standardof microscopy-photo-count imaging system[刊,中]/崔岩梅,王苏生,王莹,胡新奇,代彩虹(北京理工大学光电工程系.北京(1...TN223 2000064071显微光子计数成像系统的噪声抑制及定量测量标准的确立=Noise research and quantitative standardof microscopy-photo-count imaging system[刊,中]/崔岩梅,王苏生,王莹,胡新奇,代彩虹(北京理工大学光电工程系.北京(100081))//光学技术.一1999,(3).—60-62显微光子计数成像系统是极其灵敏的弱光探测成像系统,为使其应用进一步深入微观领域。展开更多
TH742.9 2001042954椭偏光学显微成像系统中的图像采集及处理技术=Technique of image collecting and processing in ellipsometricimaging sysetms[刊,中]/孟永宏,靳刚(中科院力学研究所.北京(100080))//光学精密工程.-2000,8(4).-316...TH742.9 2001042954椭偏光学显微成像系统中的图像采集及处理技术=Technique of image collecting and processing in ellipsometricimaging sysetms[刊,中]/孟永宏,靳刚(中科院力学研究所.北京(100080))//光学精密工程.-2000,8(4).-316-320针对椭偏光学显微成像系统及其成像特点,提出了扩展图像量化等级法、快速采样-时间积分法和多采样点平均法以改善椭偏成像质量和样品表面定量分析的可靠性,给出了理论分析及实验结果。图3参8(任延同)展开更多
文摘TN223 2000064071显微光子计数成像系统的噪声抑制及定量测量标准的确立=Noise research and quantitative standardof microscopy-photo-count imaging system[刊,中]/崔岩梅,王苏生,王莹,胡新奇,代彩虹(北京理工大学光电工程系.北京(100081))//光学技术.一1999,(3).—60-62显微光子计数成像系统是极其灵敏的弱光探测成像系统,为使其应用进一步深入微观领域。
文摘TH742.9 2001042954椭偏光学显微成像系统中的图像采集及处理技术=Technique of image collecting and processing in ellipsometricimaging sysetms[刊,中]/孟永宏,靳刚(中科院力学研究所.北京(100080))//光学精密工程.-2000,8(4).-316-320针对椭偏光学显微成像系统及其成像特点,提出了扩展图像量化等级法、快速采样-时间积分法和多采样点平均法以改善椭偏成像质量和样品表面定量分析的可靠性,给出了理论分析及实验结果。图3参8(任延同)
