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XRF强度影响系数法测定地质样品的组分 被引量:1
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作者 戴振麟 葛良全 +1 位作者 程锋 张庆贤 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第2期425-429,共5页
使用Si-PIN探测器和嵌入式计算机的便携式高能量分辨率X射线荧光(XRF)分析仪,建立影响系数法强度校正模型,对一些矿样(包括矿山中的原生矿)元素进行了测定,与化学分析结果相比较得出:矿样中的Fe元素含量在20%-55%之间的最大相对误差不超... 使用Si-PIN探测器和嵌入式计算机的便携式高能量分辨率X射线荧光(XRF)分析仪,建立影响系数法强度校正模型,对一些矿样(包括矿山中的原生矿)元素进行了测定,与化学分析结果相比较得出:矿样中的Fe元素含量在20%-55%之间的最大相对误差不超过4.74%;Cu元素含量在182ppm-2400ppm之间的最大相对误差不超过24.70%,在2400ppm-3600ppm之间的最大相对误差不超过7.46%;Zn元素含量在556ppm-3200ppm之间的最大相对误差不超过25.93%,在3200ppm-21600ppm之间最大相对误差不超过11.48%;Pb元素含量在5900ppm-204200ppm之间的最大相对误差不超过23.80%,在204200ppm-511200ppm之间的最大相对误差不超过13.79%。由此可见,该模型能够很好地克服各种基质成分基体效应的影响并且能够有效地指导矿山的选矿工作。 展开更多
关键词 强度影响系数法 基体效应 地质样品 XRF
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