期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
光学系统弥散斑参数的测试 被引量:4
1
作者 李坤 陈永权 +5 位作者 赵建科 段亚轩 李巧玲 潘亮 龙江波 张海洋 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第9期2482-2489,共8页
采用CCD显微成像系统对光学系统弥散斑参数进行定量测量,并设计了弥散斑参数的评价算法。首先,给出了弥散斑参数的定义,分析了弥散斑所形成的能量等高线构成的闭合的连通区域,对占总能量80%的区域计算其弥散斑直径。然后,对该区域的边... 采用CCD显微成像系统对光学系统弥散斑参数进行定量测量,并设计了弥散斑参数的评价算法。首先,给出了弥散斑参数的定义,分析了弥散斑所形成的能量等高线构成的闭合的连通区域,对占总能量80%的区域计算其弥散斑直径。然后,对该区域的边界点进行椭圆拟合,得到弥散斑圆度。提出的方法通过对光学系统在像平面所成的星点像的能量分布的分析,在弥散斑圆度测试中引入了椭圆拟合,减少了CCD噪声和测试环境中的杂光等随机因素对测试结果的影响,提高了测试结果的置信度。实验结果显示:弥散斑直径测试重复性为0.18μm,弥散斑圆度测试重复性为1.65%。提出的方法实现了弥散斑参数的定量测试,满足航天项目中光学系统成像质量控制要求。 展开更多
关键词 光学系统 弥散斑参数、ccd显微测量系统、能量等高线、区域填充、椭圆拟合
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部