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自动化测试机开短路测试系统搭建和应用
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作者 蔡晓峰 余凯 +1 位作者 陆逸敏 徐秋雨 《中国集成电路》 2024年第12期86-89,共4页
随着半导体行业的发展,自动化测试机中(ATE)的开短路(Open/Short)测试系统在传统测试生产中扮演着越来越关键的角色。本文概述了集成电路自动测试机的基本概念和核心功能,并详细介绍开短路测试系统的搭建过程,包括硬件选择、软件配置和... 随着半导体行业的发展,自动化测试机中(ATE)的开短路(Open/Short)测试系统在传统测试生产中扮演着越来越关键的角色。本文概述了集成电路自动测试机的基本概念和核心功能,并详细介绍开短路测试系统的搭建过程,包括硬件选择、软件配置和系统集成。文章强调了该系统在自动缺陷检测、测试数据分析以及智能分类与分拣方面的应用,这些应用为传统测试生产带来了显著的效率提升和质量改进。 展开更多
关键词 自动化测试 开短路测试 硬件架构 软件配置 系统集成
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基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案设计 被引量:8
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作者 杜晓岚 张磊 《电子设计工程》 2019年第14期51-54,共4页
集成电路产业已经成为我国重点发展产业。集成电路生产封装后都要先进行引脚开短路测试,从而尽早筛出失效芯片以缩短整体测试时长,提升经济效益。针对集成电路引脚开短路测试要求,本文提出一种基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案... 集成电路产业已经成为我国重点发展产业。集成电路生产封装后都要先进行引脚开短路测试,从而尽早筛出失效芯片以缩短整体测试时长,提升经济效益。针对集成电路引脚开短路测试要求,本文提出一种基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案。该方案具备可操作性强的优点,只需要配合平台搭接简单的测试电路,然后使用C语言编写测试程序就能快速的将一个型号芯片的引脚开短路问题测试出来,并将结果反馈至上位机,使用户能够直观地判别被测芯片的好坏。 展开更多
关键词 IC开短路测试 LK8810平台 集成电路测试 半导体器件
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元器件开短路测试应用 被引量:1
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作者 王展 《电子质量》 2014年第7期13-15,共3页
该文从开短路测试原理出发,使用A567测试台对二输入与非门54LS00的输入、输出管脚进行Open-Short测试,验证了此方法快速检测出被测器件是否存在引脚短路、断路、静电保护功能丧失等缺陷的可行性。
关键词 开短路测试 静电保护
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集成电路成品测试的常见问题分析 被引量:10
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作者 倪宋斌 马美铭 《电子与封装》 2023年第12期20-23,共4页
随着集成电路产业的快速发展,芯片特征尺寸不断缩小,其集成度与复杂度却越来越高,这使得集成电路测试的重要性不断上升。成品测试作为集成电路生产过程中的最后一步,其针对芯片电性能的测试也是最全面的。为了保证芯片在极端环境下仍可... 随着集成电路产业的快速发展,芯片特征尺寸不断缩小,其集成度与复杂度却越来越高,这使得集成电路测试的重要性不断上升。成品测试作为集成电路生产过程中的最后一步,其针对芯片电性能的测试也是最全面的。为了保证芯片在极端环境下仍可使用,一般在成品测试中会对芯片进行常温(25℃)、低温(-55℃)和高温(125℃)测试,其目的是剔除不良品。除了电性能不良造成的电路失效,还有因测试硬件老化或损坏、测试方法不当以及温度差异造成的假性失效。通过分析测试异常发生的原因,发现优化测试插座的选型和测试板的设计以及优化测试程序的设置可以减少测试异常,这些方法对提高测试准确性有一定帮助。 展开更多
关键词 成品测试 测试设备 开短路测试 功能测试
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集成电路极性测试“微整机”研究与应用 被引量:2
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作者 张亚军 陆坚 《电子与封装》 2021年第4期42-45,共4页
集成电路极性测试一般指选择电路一个特定管脚进行电性能量测,快速判断电路放置是否反向、错位等,实现原理和集成电路开短路测试原理一致。目前集成电路极性测试多数依赖于功能强大、应用成熟的集成电路自动测试机(Automatic Test Equip... 集成电路极性测试一般指选择电路一个特定管脚进行电性能量测,快速判断电路放置是否反向、错位等,实现原理和集成电路开短路测试原理一致。目前集成电路极性测试多数依赖于功能强大、应用成熟的集成电路自动测试机(Automatic Test Equipment,ATE)实现,但是测试性价比没有任何竞争力。基于集成电路极性测试原理,采用纯硬件制作一款集成电路极性测试"微整机",在极性测试上达到与ATE同样的测试能力,并能和机械手(Handler)进行信息交互,实现自动化测试,具备简单、稳定、高效和极低成本的特点。 展开更多
关键词 极性测试 开短路测试 微整机
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BGA芯片失效分析 被引量:1
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作者 胡立波 徐志浩 《消费电子》 2014年第8期167-167,共1页
本文对球栅阵列(BGA)技术进行了介绍,主要从植球目的和开短路测试机测试的目的两方面,进行BGA芯片失效分析,展现了失效分析对BGA封装的质量控制作用。
关键词 球栅阵列 植球 开短路测试 失效分析
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