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SiC MOSFET的短路耐受时间分析及其基于di/dt-PMOS的短路保护
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作者 谢佳明 魏金萧 +2 位作者 吴彬兵 丰昊 冉立 《电工技术学报》 北大核心 2025年第16期5081-5091,共11页
为了提高SiC MOSFET的短路可靠性,在不同的母线电压、驱动电压、驱动电阻、主回路寄生电感以及栅极阈值电压参数下,对SiC MOSFET短路电流特性曲线进行测量,定量分析各个参数对短路电流的影响,为如何提高SiC MOSEFT的短路耐受时间提供解... 为了提高SiC MOSFET的短路可靠性,在不同的母线电压、驱动电压、驱动电阻、主回路寄生电感以及栅极阈值电压参数下,对SiC MOSFET短路电流特性曲线进行测量,定量分析各个参数对短路电流的影响,为如何提高SiC MOSEFT的短路耐受时间提供解决思路。同时,由于SiC MOSFET的短路耐受时间决定着对其进行短路保护动作的最大时间,所以这些不同参数的设置直接影响着SiC MOSFET短路保护电路的设计。在传统SiC MOSFET短路保护策略中,利用开尔文源极与功率源极之间寄生电感产生的感应电压,配合RC滤波器进行短路保护,存在SiC MOSFET在硬开关短路和负载短路中,触发短路保护动作阈值不一致的问题,即导致短路保护失败。针对此问题,提出基于di/dt-PMOS的短路保护策略,保证了阈值的一致性。通过公式推导以及实验验证了基于di/dt-PMOS的SiC MOSFET短路保护策略的有效性。 展开更多
关键词 SiC MOSFET 短路耐受时间 短路保护 开尔文源极 驱动电路
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碳化硅MOSFET桥臂串扰机理分析与抑制策略 被引量:2
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作者 何杰 刘钰山 +1 位作者 毕大强 李晓 《中国电机工程学报》 EI CSCD 北大核心 2023年第15期6005-6019,共15页
桥臂串扰指关断态开关管驱动端状态受到同一桥臂支路另一开关管开通或关断的干扰而产生扰动。相比于传统硅器件,碳化硅金属–氧化物半导体场效应晶体管(metal-oxide-semiconductor field effect transistor,MOSFET)开关速度更高、驱动... 桥臂串扰指关断态开关管驱动端状态受到同一桥臂支路另一开关管开通或关断的干扰而产生扰动。相比于传统硅器件,碳化硅金属–氧化物半导体场效应晶体管(metal-oxide-semiconductor field effect transistor,MOSFET)开关速度更高、驱动端可靠关断区间更小,因此,其桥臂串扰问题更加突出。为提高碳化硅MOSFET可靠性,有必要分析碳化硅MOSFET桥臂串扰发生过程和特点,并提出相应解决方案。为此,文中首先建立基于碳化硅MOSFET桥臂串扰电路模型,并分析该模型暂态过程;其次,基于分析结果建立桥臂串扰电压极值简化模型,并提出基于桥臂串扰问题安全工作区模型,然后,由此提出并设计具有桥臂串扰抑制功能的栅极驱动电路;最后,通过实验验证所提桥臂串扰模型的可行性,以及所提栅极驱动电路的有效性。 展开更多
关键词 碳化硅MOSFET 暂态分析 桥臂串扰 驱动器 安全工作区 开尔文源极
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