主要介绍了几种目前应用比较广泛的氢分布检测技术的原理及其在氢渗透和氢脆研究中的应用,包括三维原子探针(Atom Probe Tomography,APT)、扫描开尔文探针力显微镜(Scanning Kelvin Probe Force Microscopy,SKPFM)、二次离子质谱法(Seco...主要介绍了几种目前应用比较广泛的氢分布检测技术的原理及其在氢渗透和氢脆研究中的应用,包括三维原子探针(Atom Probe Tomography,APT)、扫描开尔文探针力显微镜(Scanning Kelvin Probe Force Microscopy,SKPFM)、二次离子质谱法(Secondary Ion Mass Spectroscopy,SIMS)和氢微印技术(Hydrogen microprinting technique,HMT),以及可用来检测氢浓度的热脱附质谱技术(Thermal desorption spectrometry,TDS)等。总结了几种检测技术的原理和特点,并简要介绍了它们在与H有关领域里的典型应用。其中,APT和SIMS是利用质谱法直接检测H,以获得H在材料中的分布;SKPFM是通过H引起的电位变化,来获得H的分布;HMT是通过置换反应,即H原子将Ag+置换为Ag原子,Ag原子沉积在试样表面的分布来表征H的分布;热脱附法则是通过恒定的升温速率下H脱附速率对不同陷阱的敏感性差异,来获得不同陷阱中的H浓度以及H与陷阱的相互作用。这几种检测技术的空间分辨率可达亚纳米、纳米、微米至数微米直至毫米级。另外,SKPFM还具有时间分辨的功能。这些技术在H检测方面的应用,使得研究者对H在材料中的微观分布与聚集状态有了直观地认识,进而对由氢引起的失效破坏(即氢致延迟断裂的微观机理)有了更深刻的理解。最后还介绍了目前比较常用的检测H浓度的方法。展开更多
TN16 98010685扫描力显微镜研究进展=New developments ofscanning force microscopy[刊,中]/白春礼,田芳(中科院化学所.北京(100080))//物理.—1997,26(7).—402—407讨论了扫描力显微镜(SFM)基本原理;介绍了SFM成像模式和技术的发展...TN16 98010685扫描力显微镜研究进展=New developments ofscanning force microscopy[刊,中]/白春礼,田芳(中科院化学所.北京(100080))//物理.—1997,26(7).—402—407讨论了扫描力显微镜(SFM)基本原理;介绍了SFM成像模式和技术的发展以及它们在表面研究中的应用。图4参17(李瑞琴) TN16 98010686弹道电子发射显微术及其应用=Ballistic electronemission microscopy and its applications[刊,中]/商广义,裘晓辉,王琛,王乃新,白春礼(中科院化学所.北京(100080))//物理.—1997,(26).—300—304介绍了BEEM弹道电子发射显微术的基本原理、关键技术及其应用,并给出了有关实验结果。图5参17(李瑞琴)展开更多
文摘主要介绍了几种目前应用比较广泛的氢分布检测技术的原理及其在氢渗透和氢脆研究中的应用,包括三维原子探针(Atom Probe Tomography,APT)、扫描开尔文探针力显微镜(Scanning Kelvin Probe Force Microscopy,SKPFM)、二次离子质谱法(Secondary Ion Mass Spectroscopy,SIMS)和氢微印技术(Hydrogen microprinting technique,HMT),以及可用来检测氢浓度的热脱附质谱技术(Thermal desorption spectrometry,TDS)等。总结了几种检测技术的原理和特点,并简要介绍了它们在与H有关领域里的典型应用。其中,APT和SIMS是利用质谱法直接检测H,以获得H在材料中的分布;SKPFM是通过H引起的电位变化,来获得H的分布;HMT是通过置换反应,即H原子将Ag+置换为Ag原子,Ag原子沉积在试样表面的分布来表征H的分布;热脱附法则是通过恒定的升温速率下H脱附速率对不同陷阱的敏感性差异,来获得不同陷阱中的H浓度以及H与陷阱的相互作用。这几种检测技术的空间分辨率可达亚纳米、纳米、微米至数微米直至毫米级。另外,SKPFM还具有时间分辨的功能。这些技术在H检测方面的应用,使得研究者对H在材料中的微观分布与聚集状态有了直观地认识,进而对由氢引起的失效破坏(即氢致延迟断裂的微观机理)有了更深刻的理解。最后还介绍了目前比较常用的检测H浓度的方法。
文摘TN16 98010685扫描力显微镜研究进展=New developments ofscanning force microscopy[刊,中]/白春礼,田芳(中科院化学所.北京(100080))//物理.—1997,26(7).—402—407讨论了扫描力显微镜(SFM)基本原理;介绍了SFM成像模式和技术的发展以及它们在表面研究中的应用。图4参17(李瑞琴) TN16 98010686弹道电子发射显微术及其应用=Ballistic electronemission microscopy and its applications[刊,中]/商广义,裘晓辉,王琛,王乃新,白春礼(中科院化学所.北京(100080))//物理.—1997,(26).—300—304介绍了BEEM弹道电子发射显微术的基本原理、关键技术及其应用,并给出了有关实验结果。图5参17(李瑞琴)
