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用于跳变故障测试的确定性逻辑内建自测试方法
1
作者
王颖
陈禾
《电子测量技术》
2007年第10期54-57,共4页
BIST由于支持全速测试而成为延迟故障测试中引人关注的技术。确定性逻辑BIST(DLBIST)已成功应用于固定故障的测试中。由于DF的随机可测试性低于固定故障,故需要对DLBIST方法进行修改。DF测试需要测试向量对,因而与SAF相比,需要更多的映...
BIST由于支持全速测试而成为延迟故障测试中引人关注的技术。确定性逻辑BIST(DLBIST)已成功应用于固定故障的测试中。由于DF的随机可测试性低于固定故障,故需要对DLBIST方法进行修改。DF测试需要测试向量对,因而与SAF相比,需要更多的映射与逻辑开销。本文针对广泛应用的所谓跳变故障模型,提出了用于跳变故障测试的DLBIST扩展方法,使用FJ产生向量对。实验结果表明,使用本文方法可以获得较高的故障测试效率。
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关键词
确定性逻辑BIST
延迟故障测试
跳变
故障
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职称材料
题名
用于跳变故障测试的确定性逻辑内建自测试方法
1
作者
王颖
陈禾
机构
北京理工大学电子工程系
出处
《电子测量技术》
2007年第10期54-57,共4页
文摘
BIST由于支持全速测试而成为延迟故障测试中引人关注的技术。确定性逻辑BIST(DLBIST)已成功应用于固定故障的测试中。由于DF的随机可测试性低于固定故障,故需要对DLBIST方法进行修改。DF测试需要测试向量对,因而与SAF相比,需要更多的映射与逻辑开销。本文针对广泛应用的所谓跳变故障模型,提出了用于跳变故障测试的DLBIST扩展方法,使用FJ产生向量对。实验结果表明,使用本文方法可以获得较高的故障测试效率。
关键词
确定性逻辑BIST
延迟故障测试
跳变
故障
Keywords
deterministic logic BIST
delay fault test
transition fault
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
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1
用于跳变故障测试的确定性逻辑内建自测试方法
王颖
陈禾
《电子测量技术》
2007
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