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多值故障字典的测点选择与序测试设计
被引量：
8
1
作者
杨成林
田书林
龙兵
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
北大核心
2009年第9期2271-2275,共5页
序贯测试问题是目前的一个研究热点。由于时间复杂度太高,传统的序贯测试算法对于测点数大于12的系统无能为力。为此,将序贯测试问题拆分为测点选择与序测试设计两个问题。测点选择问题用A*算法解决:运用M进制编码规则,首先给出了启发...
序贯测试问题是目前的一个研究热点。由于时间复杂度太高,传统的序贯测试算法对于测点数大于12的系统无能为力。为此,将序贯测试问题拆分为测点选择与序测试设计两个问题。测点选择问题用A*算法解决:运用M进制编码规则,首先给出了启发函数的计算方法,然后给出了能够得到所有最小测点集的改进的A*算法。序测试设计问题用AO*算法解决:对二值哈夫曼编码规则进行推广得到了多值编码规则,根据此规则给出了AO*算法启发函数的计算方法。提出的方法更符合可测性设计的设计流程,试验和复杂度分析表明该方法能显著降低传统方法的时间复杂度。
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关键词
多值故障字典
测点选择
序贯测试问题
可测性设计
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职称材料
题名
多值故障字典的测点选择与序测试设计
被引量：
8
1
作者
杨成林
田书林
龙兵
机构
电子科技大学自动化工程学院
出处
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
北大核心
2009年第9期2271-2275,共5页
基金
国家自然科学基金(60772145)
国防基础科研计划基金(A1420061264)
+1 种基金
高等学校博士学科点专项科研基金(20070614018)
电子科技大学青年基金重点项目资助课题
文摘
序贯测试问题是目前的一个研究热点。由于时间复杂度太高,传统的序贯测试算法对于测点数大于12的系统无能为力。为此,将序贯测试问题拆分为测点选择与序测试设计两个问题。测点选择问题用A*算法解决:运用M进制编码规则,首先给出了启发函数的计算方法,然后给出了能够得到所有最小测点集的改进的A*算法。序测试设计问题用AO*算法解决:对二值哈夫曼编码规则进行推广得到了多值编码规则,根据此规则给出了AO*算法启发函数的计算方法。提出的方法更符合可测性设计的设计流程,试验和复杂度分析表明该方法能显著降低传统方法的时间复杂度。
关键词
多值故障字典
测点选择
序贯测试问题
可测性设计
Keywords
multivalued fault dictionary
test point selection
test sequencing problem
design for test
分类号
TN710 [电子电信—电路与系统]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
多值故障字典的测点选择与序测试设计
杨成林
田书林
龙兵
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
北大核心
2009
8
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