期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
基于广义AO算法的测试序列问题研究 被引量:4
1
作者 王红霞 叶晓慧 田树新 《兵工学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第2期204-208,共5页
测试序列问题的目标是用最小的期望测试费用找到最佳测试序列。提出了一种广义AO*算法解决了电子设备的测试序列问题。对传统的AND/OR图进行扩展得到一种广义的AND/OR图,它不仅能够提高AND/OR图的表达能力而且能够实现推理操作符与问题... 测试序列问题的目标是用最小的期望测试费用找到最佳测试序列。提出了一种广义AO*算法解决了电子设备的测试序列问题。对传统的AND/OR图进行扩展得到一种广义的AND/OR图,它不仅能够提高AND/OR图的表达能力而且能够实现推理操作符与问题之间的多对多关系;描述了广义AO*算法的步骤并且分析了该算法的计算复杂度。通过实例说明广义AO*算法不仅可有效减少计算复杂度和平均测试代价,而且生成的故障诊断策略能快速、有效的指导维修人员定位故障以减少维修代价。 展开更多
关键词 人工智能 广义AND/OR图 广义ao算法 测试序列问题
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部