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双层植被电磁散射模型分析及实验对比
被引量：
4
1
作者
宋月霞
张民
+1 位作者
吴振森
马岸英
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第3期410-414,共5页
基于矢量辐射输运理论,根据广义瑞利 金斯近似理论计算了单个植被叶片的后向散射系数随着入射角和尺寸参数的变化曲线.采用矢量辐射输运方程的零阶和一阶迭代解,考虑了地面相干散射的影响,详细描述并计算了双层植被散射模型的后向散射系...
基于矢量辐射输运理论,根据广义瑞利 金斯近似理论计算了单个植被叶片的后向散射系数随着入射角和尺寸参数的变化曲线.采用矢量辐射输运方程的零阶和一阶迭代解,考虑了地面相干散射的影响,详细描述并计算了双层植被散射模型的后向散射系数,并与文献实测数据对比分析,得到了较好的吻合结果.
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关键词
矢量辐射输运
理论
广义
瑞利
-
金斯近似
理论
植被
电磁
散射
后向
散射
系数
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职称材料
基于一阶彩虹区域高斯光散射的液滴测量
被引量：
3
2
作者
孙辉
于海涛
沈建琪
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2018年第1期156-164,共9页
为实现雾化过程中局域内单液滴的测量,采用德拜级数展开研究了高斯光照射下球形液滴一阶彩虹区域的散射光强分布,以及高斯光束腰大小对光强分布峰值角度的影响.根据德拜级数展开计算的散射光强分布反演液滴的折射率和粒径,证明了根据高...
为实现雾化过程中局域内单液滴的测量,采用德拜级数展开研究了高斯光照射下球形液滴一阶彩虹区域的散射光强分布,以及高斯光束腰大小对光强分布峰值角度的影响.根据德拜级数展开计算的散射光强分布反演液滴的折射率和粒径,证明了根据高斯光的彩虹散射反演液滴信息的可行性.基于广义洛伦兹-米氏理论计算一阶彩虹区域的总光强分布,根据总光强分布反演液滴折射率和粒径,讨论了高斯光束位置对反演液滴信息的影响.对于半径在200~1 000μm区间的液滴,高斯光束位于中心入射时,反演折射率的误差小于2.38×10-4,粒径的相对误差在-3.31%~3.31%之间.与采用平行光彩虹技术相比,采用高斯光束为入射光可以得到较高的光能聚集区,较好地定义测量区大小,既可以有效避免多个液滴同时出现在测量区的情况、减小颗粒之间复散射的影响,又可以提高信号强度.
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关键词
散射
颗粒特性
广义
洛伦兹
-
米氏
理论
彩虹图样
德拜级数展开
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职称材料
MEMS器件中的微体缺陷检测研究
被引量：
1
3
作者
李颖鹏
尤政
李滨
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2002年第4期351-355,共5页
为实现对硅基材料和MEMS器件内微体缺陷的无损、高效和准确检测 ,在研究广义洛仑兹 米氏散射理论的基础上 ,针对硅基材料和MEMS器件的物理特点 ,对球形缺陷与红外激光相互作用在非垂直方向散射光强分布特点进行了研究和计算机仿真 ,提...
为实现对硅基材料和MEMS器件内微体缺陷的无损、高效和准确检测 ,在研究广义洛仑兹 米氏散射理论的基础上 ,针对硅基材料和MEMS器件的物理特点 ,对球形缺陷与红外激光相互作用在非垂直方向散射光强分布特点进行了研究和计算机仿真 ,提出利用红外激光背散射分布分析对硅基材料和MEMS器件内部缺陷进行检测的方法 ,并通过实验验证了该方法的有效性。
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关键词
硅基材料
光强分布分析
检测
微体缺陷
广义洛仑兹-米氏散射理论
背
散射
MEMS
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职称材料
题名
双层植被电磁散射模型分析及实验对比
被引量：
4
1
作者
宋月霞
张民
吴振森
马岸英
机构
西安电子科技大学理学院
西安机电信息研究所
出处
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第3期410-414,共5页
基金
国家部委基金资助项目(00J3 3 1BQ4201
51477080101DZ0102)
文摘
基于矢量辐射输运理论,根据广义瑞利 金斯近似理论计算了单个植被叶片的后向散射系数随着入射角和尺寸参数的变化曲线.采用矢量辐射输运方程的零阶和一阶迭代解,考虑了地面相干散射的影响,详细描述并计算了双层植被散射模型的后向散射系数,并与文献实测数据对比分析,得到了较好的吻合结果.
关键词
矢量辐射输运
理论
广义
瑞利
-
金斯近似
理论
植被
电磁
散射
后向
散射
系数
Keywords
random medium
canopy
electromagnetic scattering
radiative transfer theory
分类号
TN011 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
基于一阶彩虹区域高斯光散射的液滴测量
被引量：
3
2
作者
孙辉
于海涛
沈建琪
机构
上海理工大学理学院
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2018年第1期156-164,共9页
基金
国家自然基金(Nos.51506129
51476104)资助~~
文摘
为实现雾化过程中局域内单液滴的测量,采用德拜级数展开研究了高斯光照射下球形液滴一阶彩虹区域的散射光强分布,以及高斯光束腰大小对光强分布峰值角度的影响.根据德拜级数展开计算的散射光强分布反演液滴的折射率和粒径,证明了根据高斯光的彩虹散射反演液滴信息的可行性.基于广义洛伦兹-米氏理论计算一阶彩虹区域的总光强分布,根据总光强分布反演液滴折射率和粒径,讨论了高斯光束位置对反演液滴信息的影响.对于半径在200~1 000μm区间的液滴,高斯光束位于中心入射时,反演折射率的误差小于2.38×10-4,粒径的相对误差在-3.31%~3.31%之间.与采用平行光彩虹技术相比,采用高斯光束为入射光可以得到较高的光能聚集区,较好地定义测量区大小,既可以有效避免多个液滴同时出现在测量区的情况、减小颗粒之间复散射的影响,又可以提高信号强度.
关键词
散射
颗粒特性
广义
洛伦兹
-
米氏
理论
彩虹图样
德拜级数展开
Keywords
Scattering
Particles characterization
Rainbow pattern
Generalized Lorenz
-
Mie theory
Debye series
分类号
O436 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
MEMS器件中的微体缺陷检测研究
被引量：
1
3
作者
李颖鹏
尤政
李滨
机构
清华大学精密仪器与机械学系
出处
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2002年第4期351-355,共5页
文摘
为实现对硅基材料和MEMS器件内微体缺陷的无损、高效和准确检测 ,在研究广义洛仑兹 米氏散射理论的基础上 ,针对硅基材料和MEMS器件的物理特点 ,对球形缺陷与红外激光相互作用在非垂直方向散射光强分布特点进行了研究和计算机仿真 ,提出利用红外激光背散射分布分析对硅基材料和MEMS器件内部缺陷进行检测的方法 ,并通过实验验证了该方法的有效性。
关键词
硅基材料
光强分布分析
检测
微体缺陷
广义洛仑兹-米氏散射理论
背
散射
MEMS
Keywords
Silicic material
\ MEMS
\ Micro bulk defect
\ Generalized Lorenz
-
Mie Scattering theory
\ Back scattering
\ Light intensity distribution analysis
分类号
TN307 [电子电信—物理电子学]
TN304.07 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
双层植被电磁散射模型分析及实验对比
宋月霞
张民
吴振森
马岸英
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
4
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
基于一阶彩虹区域高斯光散射的液滴测量
孙辉
于海涛
沈建琪
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2018
3
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
MEMS器件中的微体缺陷检测研究
李颖鹏
尤政
李滨
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2002
1
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职称材料
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