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VLSI并行测试生成系统的一种动态层次框架 被引量:2
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作者 刘蓬侠 曾芷德 李思昆 《计算机工程与科学》 CSCD 2001年第2期79-83,共5页
随着 VLSI技术的发展和计算机性能的提高 ,并行测试生成系统不仅必需而且可行。本文在总结已有并行技术的基础上 ,提出了并行测试生成系统的一种动态层次框架 。
关键词 VLSI 并行测试生成系统 超大规模集成电路 并行计算机
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一个多算法集成的灵活并行测试生成原型系统
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作者 刘蓬侠 曾芷德 李思昆 《计算机工程与科学》 CSCD 2001年第5期70-73,101,共5页
并行测试生成原型系统 PATGTA基于串行 ASIC测试生成和可测性分析系统 ATGTA,采用 PVM作为并行支撑环境 ,可方便地移植于各种并行计算环境 ,采用主从模式开发并集成了多种并行算法。对 Benchmark- 89电路的实验结果表明 。
关键词 专用集成电路 并行测试生成原型系统 算法集成
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