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VLSI并行测试生成系统的一种动态层次框架
被引量:
2
1
作者
刘蓬侠
曾芷德
李思昆
《计算机工程与科学》
CSCD
2001年第2期79-83,共5页
随着 VLSI技术的发展和计算机性能的提高 ,并行测试生成系统不仅必需而且可行。本文在总结已有并行技术的基础上 ,提出了并行测试生成系统的一种动态层次框架 。
关键词
VLSI
并行测试生成系统
超大规模集成电路
并行
计算机
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职称材料
一个多算法集成的灵活并行测试生成原型系统
2
作者
刘蓬侠
曾芷德
李思昆
《计算机工程与科学》
CSCD
2001年第5期70-73,101,共5页
并行测试生成原型系统 PATGTA基于串行 ASIC测试生成和可测性分析系统 ATGTA,采用 PVM作为并行支撑环境 ,可方便地移植于各种并行计算环境 ,采用主从模式开发并集成了多种并行算法。对 Benchmark- 89电路的实验结果表明 。
关键词
专用集成电路
并行
测试
生成
原型
系统
算法集成
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职称材料
题名
VLSI并行测试生成系统的一种动态层次框架
被引量:
2
1
作者
刘蓬侠
曾芷德
李思昆
机构
国防科技大学计算机学院
出处
《计算机工程与科学》
CSCD
2001年第2期79-83,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目! (6 97730 35 )
文摘
随着 VLSI技术的发展和计算机性能的提高 ,并行测试生成系统不仅必需而且可行。本文在总结已有并行技术的基础上 ,提出了并行测试生成系统的一种动态层次框架 。
关键词
VLSI
并行测试生成系统
超大规模集成电路
并行
计算机
Keywords
parallel ATPG
fault decomposition
AND parallel functional decomposition
OR parallel function decomposition
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP338.6 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
一个多算法集成的灵活并行测试生成原型系统
2
作者
刘蓬侠
曾芷德
李思昆
机构
国防科技大学计算机学院
出处
《计算机工程与科学》
CSCD
2001年第5期70-73,101,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目 ( 6 97730 35 )
文摘
并行测试生成原型系统 PATGTA基于串行 ASIC测试生成和可测性分析系统 ATGTA,采用 PVM作为并行支撑环境 ,可方便地移植于各种并行计算环境 ,采用主从模式开发并集成了多种并行算法。对 Benchmark- 89电路的实验结果表明 。
关键词
专用集成电路
并行
测试
生成
原型
系统
算法集成
Keywords
test generation
PVM
parallelism
prototyp e system
分类号
TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
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作者
出处
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1
VLSI并行测试生成系统的一种动态层次框架
刘蓬侠
曾芷德
李思昆
《计算机工程与科学》
CSCD
2001
2
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职称材料
2
一个多算法集成的灵活并行测试生成原型系统
刘蓬侠
曾芷德
李思昆
《计算机工程与科学》
CSCD
2001
0
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