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面向IaaS的云计算系统可用性评估 被引量:5
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作者 李阿妮 张晓 +2 位作者 赵晓南 张伯阳 柳春懿 《计算机科学》 CSCD 北大核心 2016年第10期33-39,共7页
随着云计算应用范围的扩展,人们对云计算在安全性、可靠性、可用性等方面的担忧与日俱增。云计算服务商承诺提供的服务满足服务水平协议,主要包括性能和可用性。但是,因可用性的内在复杂性而缺乏定量评估手段,对于云计算系统用户而言更... 随着云计算应用范围的扩展,人们对云计算在安全性、可靠性、可用性等方面的担忧与日俱增。云计算服务商承诺提供的服务满足服务水平协议,主要包括性能和可用性。但是,因可用性的内在复杂性而缺乏定量评估手段,对于云计算系统用户而言更是如此。为此,提出面向最终用户和面向云计算服务提供商的云计算系统可用性评估方法,这两种方法都采用可用性的定义建立模型,并且采用虚拟机的启动时间代替平均故障修复时间(Mean Time To Repair,MTTR)。第一种方法的平均失效前时间(Mean Time To Failure,MTTF)采用云计算服务提供商提供的参数;第二种方法通过统计得到虚拟机的MTTF,并计算云计算系统之上的集群可用性。由于难以对后者进行实验验证,因此只对第一种方法进行验证,通过实验测量公有云和私有云提供的虚拟机的启动时间,结合云计算服务提供商提供的MTTF,计算了两种不同云平台服务的可用性,该方法方便用户快速计算可用性,为用户选择不同的云服务提供建议,并且可以判断云计算服务提供商的承诺是否达到标准以及是否可以将一些关键行业应用服务迁移至云平台。 展开更多
关键词 云计算 可用性 平均失效前时间 平均故障修复时间 定量计算
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压敏电阻在雷电过电压作用下的可靠性 被引量:14
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作者 盛财旺 张小青 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第2期437-442,共6页
为对压敏电阻在雷电过电压作用下的可靠性进行评估,提出了基于Markov过程的压敏电阻可靠性评估模型。通过Markov过程分析了压敏电阻在限压运行中不同状态的转移过程,同时推导出了压敏电阻在雷电冲击下的平均失效前时间的计算公式。以这... 为对压敏电阻在雷电过电压作用下的可靠性进行评估,提出了基于Markov过程的压敏电阻可靠性评估模型。通过Markov过程分析了压敏电阻在限压运行中不同状态的转移过程,同时推导出了压敏电阻在雷电冲击下的平均失效前时间的计算公式。以这一公式为基础,建立了相关的可靠性评估模型。然后通过配电变压器线路上雷电暂态过电压进行建模仿真,得出了压敏电阻在3种状态下的雷电流概率。将雷电参数代入公式计算压敏电阻的可靠性,预测了其在不同运行条件下的寿命:对转化率为1/10,动作电压620V、通流容量40kA的34S621型压敏电阻,当转化率取1/50时,其寿命>4a;压敏电压取910V时,其寿命>5a;通流容量取40kA时,其寿命>3a。分析表明:压敏电阻的寿命与转化率成反比,而与压敏电压和通流容量成正比。 展开更多
关键词 压敏电阻(MOV) 雷电过电压 可靠性 MARKOV过程 平均失效前时间 转化率 压敏电压 通流容量
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电子式电能表寿命概念的探讨 被引量:16
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作者 王思彤 罗玮 +1 位作者 袁瑞铭 武宏波 《电测与仪表》 北大核心 2009年第10期48-52,共5页
寿命是电子式电能表的重要技术指标。本文基于可靠性特征量,结合电子式电能表的失效分布特性,探讨了电子式电能表的各种寿命概念,提出反映质量保证最小寿命的指标应是满足可靠度目标值的可靠寿命。最后介绍了评价电子式电能表寿命的三... 寿命是电子式电能表的重要技术指标。本文基于可靠性特征量,结合电子式电能表的失效分布特性,探讨了电子式电能表的各种寿命概念,提出反映质量保证最小寿命的指标应是满足可靠度目标值的可靠寿命。最后介绍了评价电子式电能表寿命的三种方法:现场数据统计分析、加速寿命试验和可靠性预计。 展开更多
关键词 电子式电能表 可靠性 失效平均工作时间 寿命
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一种簇结构的胚胎电子细胞阵列 被引量:2
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作者 李丹阳 蔡金燕 +1 位作者 孟亚峰 朱赛 《兵工学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第3期537-552,共16页
针对胚胎电子细胞阵列中存在的故障自修复能力有限、资源利用率低、硬件资源消耗大等问题,设计了一种由簇内开关盒、簇内电子细胞和控制单元构成的电子细胞簇结构。基于这种结构提出了一种簇内基因移位的故障自修复方法。仿真实验以累... 针对胚胎电子细胞阵列中存在的故障自修复能力有限、资源利用率低、硬件资源消耗大等问题,设计了一种由簇内开关盒、簇内电子细胞和控制单元构成的电子细胞簇结构。基于这种结构提出了一种簇内基因移位的故障自修复方法。仿真实验以累计加法器为例,对电子细胞簇的功能进行了验证,并对电子细胞簇的硬件资源消耗和基于簇结构的电子细胞阵列可靠性进行了分析。仿真和分析结果表明,基于基因移位的故障自修复方法在修复故障的同时可有效保存时序电路的中间状态,而且随着阵列规模的增大,基于簇的电子细胞阵列平均失效前时间更长,硬件资源消耗更低。 展开更多
关键词 胚胎电子细胞阵列 电子细胞簇 基因移位 平均失效前时间 硬件资源消耗
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基于逆高斯退化模型的错误指定分析 被引量:2
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作者 陈旭丹 孙新利 +1 位作者 姬国勋 李振 《系统工程与电子技术》 EI CSCD 北大核心 2019年第3期693-700,共8页
针对目前随机过程退化模型错误指定研究较少,且主要集中在线性模型中的现状,研究了逆高斯过程(inverse Gaussian,IG)的两类错误指定:不含随机效应情况下非平稳IG过程被错误指定为非线性Wiener过程,以及含随机效应IG过程被错误指定为简... 针对目前随机过程退化模型错误指定研究较少,且主要集中在线性模型中的现状,研究了逆高斯过程(inverse Gaussian,IG)的两类错误指定:不含随机效应情况下非平稳IG过程被错误指定为非线性Wiener过程,以及含随机效应IG过程被错误指定为简单IG过程。基于伪最大似然估计近似正态性理论获得了这两种情形下伪平均失效前时间(mean-time-to-failure,MTTF)估计的分布特征,并以某合金疲劳裂纹数据为例,分析比较了模型错误指定对MTTF的影响。结果还显示,在特定参数设置或样本数、观测次数组合设置下,模型错误指定将对MTTF的估计带来较大影响,这在工程实践中具有一定参考价值。 展开更多
关键词 错误指定 逆高斯过程 伪最大似然估计 平均失效前时间
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