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题名利用残余点优选InSAR干涉相位条纹图的研究
被引量：2
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作者
陶鵾
杨汝良
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机构
中国科学院电子学研究所
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出处
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2003年第9期1200-1205,共6页
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文摘
该文基于相位展开中残余点的概念,深入研究了残余点发生概率与配准精度间的内在联系,根据所得出的模型,提出以残余点的数目作为衡量不同配准结果的准则,挑选出最佳的条纹图,从而最大程度地减小数字高程图中因配准所引起的误差。实际数据的研究表明,该方法简便精确、行之有效。
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关键词
干涉合成孔径雷达
INSAR
干涉相位条纹图
残余点
配准精度
图像数据处理
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Keywords
Optimization, Interferometric phase fringe image, Residues, Registration accu- racy
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分类号
TN958
[电子电信—信号与信息处理]
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