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综合孔径微波辐射计天线单元互耦的影响及其校正
被引量：
17
1
作者
董晓龙
张升伟
+2 位作者
吴季
黄永辉
姜景山
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第9期1280-1282,共3页
本文建立了综合孔径微波辐射计天线单元之间互耦对于综合孔径成像的影响的模型，分析了天线单元之间的互耦对于综合孔径微波辐射计分辨率的影响．给出了校正天线单元互耦作用影响的方法，在此基础上提出了一种综合孔径微波辐射计的定标...
本文建立了综合孔径微波辐射计天线单元之间互耦对于综合孔径成像的影响的模型，分析了天线单元之间的互耦对于综合孔径微波辐射计分辨率的影响．给出了校正天线单元互耦作用影响的方法，在此基础上提出了一种综合孔径微波辐射计的定标方法．通过数值模拟，证明了所提出的方法的有效性．
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关键词
干涉式综合孔径
微波辐射计
互耦
校正
天线
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职称材料
用于电磁检测的综合孔径辐射计成像研究
被引量：
1
2
作者
杨洁青
欧乃铭
+1 位作者
张新宇
白明
《电子测量技术》
2013年第1期41-47,共7页
干涉式综合孔径被动辐射计成像技术广泛应用于被动式毫米波成像。就综合孔径成像的基本原理进行了介绍,但应用于近场成像时综合孔径被动成像算法失效。主要分析了综合孔径成像的远场算法,针对远场算法中亮温函数与可适度函数之间存在的...
干涉式综合孔径被动辐射计成像技术广泛应用于被动式毫米波成像。就综合孔径成像的基本原理进行了介绍,但应用于近场成像时综合孔径被动成像算法失效。主要分析了综合孔径成像的远场算法,针对远场算法中亮温函数与可适度函数之间存在的傅里叶变换对的关系,通过对亮温函数进行校正,使其与可视度函数仍存在傅里叶变换对的关系,满足近场计算条件。同时,就其应用于电磁检测的具体技术细节及分辨率进行了分析讨论。根据近场校正算法进行仿真,并对成像结果进行了分析。
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关键词
干涉式综合孔径
成像
近场
电磁检测
分辨率
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职称材料
基于加权L1范数最小化原则的被动毫米波InSAR成像算法
3
作者
张翼龙
李跃华
《微波学报》
CSCD
北大核心
2015年第S2期238-241,共4页
与传统毫米波干涉式综合孔径辐射计成像方法相比,基于L范数最小化原理的成像模型由于只利用了部分干涉测量值,因此可以在很小的计算量下得到同样的高分辨率,这一优点使得L范数最小化成像算法成为一种重要的毫米波干涉式综合孔径辐射计...
与传统毫米波干涉式综合孔径辐射计成像方法相比,基于L范数最小化原理的成像模型由于只利用了部分干涉测量值,因此可以在很小的计算量下得到同样的高分辨率,这一优点使得L范数最小化成像算法成为一种重要的毫米波干涉式综合孔径辐射计成像方法。但由于其在目前的模型中采用了非自适应的随机测量矩阵,因此L范数最小化成像算法往往并不能获得最稀疏的解并会导致在求解过程中出现奇异值。为解决这些问题,利用毫米波In SAR图像的稀疏性和部分先验信息,本文提出了一种基于加权L1范数最小化原则的被动毫米波In SAR成像算法。本文所提算法利用迭代加权L1范数最小化原则来加强In SAR图像的重构过程中的稀疏性,利用由能量泛函所定义的先验信息来对重构过程进行进一步约束,可对不同复杂的场景进行快速的高分辨率成像。实验结果验证了本文所提算法的有效性和鲁棒性。
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关键词
被动毫米波
干涉式综合孔径
辐射计
成像
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职称材料
题名
综合孔径微波辐射计天线单元互耦的影响及其校正
被引量：
17
1
作者
董晓龙
张升伟
吴季
黄永辉
姜景山
机构
中国科学院空间科学与应用研究中心
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第9期1280-1282,共3页
基金
国家自然科学基金(No.69881004)
国家高技术863计划(No.863-2-7-4-14)
文摘
本文建立了综合孔径微波辐射计天线单元之间互耦对于综合孔径成像的影响的模型，分析了天线单元之间的互耦对于综合孔径微波辐射计分辨率的影响．给出了校正天线单元互耦作用影响的方法，在此基础上提出了一种综合孔径微波辐射计的定标方法．通过数值模拟，证明了所提出的方法的有效性．
关键词
干涉式综合孔径
微波辐射计
互耦
校正
天线
Keywords
Calibration
Computer simulation
Fourier transforms
Imaging techniques
Mathematical models
Microwave devices
Radiometers
Synthetic apertures
分类号
TP722.6 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
TN82 [电子电信—信息与通信工程]
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职称材料
题名
用于电磁检测的综合孔径辐射计成像研究
被引量：
1
2
作者
杨洁青
欧乃铭
张新宇
白明
机构
北京航空航天大学中法工程师学院
出处
《电子测量技术》
2013年第1期41-47,共7页
文摘
干涉式综合孔径被动辐射计成像技术广泛应用于被动式毫米波成像。就综合孔径成像的基本原理进行了介绍,但应用于近场成像时综合孔径被动成像算法失效。主要分析了综合孔径成像的远场算法,针对远场算法中亮温函数与可适度函数之间存在的傅里叶变换对的关系,通过对亮温函数进行校正,使其与可视度函数仍存在傅里叶变换对的关系,满足近场计算条件。同时,就其应用于电磁检测的具体技术细节及分辨率进行了分析讨论。根据近场校正算法进行仿真,并对成像结果进行了分析。
关键词
干涉式综合孔径
成像
近场
电磁检测
分辨率
Keywords
synthetic aperture imaging
near-field
electromagnetic detection
resolution
分类号
O441.4 [理学—电磁学]
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职称材料
题名
基于加权L1范数最小化原则的被动毫米波InSAR成像算法
3
作者
张翼龙
李跃华
机构
南京理工大学电光学院
出处
《微波学报》
CSCD
北大核心
2015年第S2期238-241,共4页
文摘
与传统毫米波干涉式综合孔径辐射计成像方法相比,基于L范数最小化原理的成像模型由于只利用了部分干涉测量值,因此可以在很小的计算量下得到同样的高分辨率,这一优点使得L范数最小化成像算法成为一种重要的毫米波干涉式综合孔径辐射计成像方法。但由于其在目前的模型中采用了非自适应的随机测量矩阵,因此L范数最小化成像算法往往并不能获得最稀疏的解并会导致在求解过程中出现奇异值。为解决这些问题,利用毫米波In SAR图像的稀疏性和部分先验信息,本文提出了一种基于加权L1范数最小化原则的被动毫米波In SAR成像算法。本文所提算法利用迭代加权L1范数最小化原则来加强In SAR图像的重构过程中的稀疏性,利用由能量泛函所定义的先验信息来对重构过程进行进一步约束,可对不同复杂的场景进行快速的高分辨率成像。实验结果验证了本文所提算法的有效性和鲁棒性。
关键词
被动毫米波
干涉式综合孔径
辐射计
成像
Keywords
passive millimeter wave
In SAR
imaging
分类号
TN015 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
综合孔径微波辐射计天线单元互耦的影响及其校正
董晓龙
张升伟
吴季
黄永辉
姜景山
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001
17
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
用于电磁检测的综合孔径辐射计成像研究
杨洁青
欧乃铭
张新宇
白明
《电子测量技术》
2013
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
基于加权L1范数最小化原则的被动毫米波InSAR成像算法
张翼龙
李跃华
《微波学报》
CSCD
北大核心
2015
0
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职称材料
已选择
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