期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
平面近场诊断在相控阵天线通道幅相性能测试中的应用 被引量:1
1
作者 杨顺平 朱晓林 《电讯技术》 北大核心 2019年第12期1477-1480,共4页
传统的平面近场诊断在通道测试时由于互耦,得到的检测值为所有通道叠加的结果,不利于单个通道信息的提取。为了去除互耦,提出了矢量旋转和近场口面诊断相结合的方法,理论上能实现对相控天线单个单元的幅度相位的检测。对该方法进行误差... 传统的平面近场诊断在通道测试时由于互耦,得到的检测值为所有通道叠加的结果,不利于单个通道信息的提取。为了去除互耦,提出了矢量旋转和近场口面诊断相结合的方法,理论上能实现对相控天线单个单元的幅度相位的检测。对该方法进行误差分析,得到了各个误差源对该方法的影响大小。通过实验验证,证明了该方法有效地减小了互耦影响,能提取单个通道的近场、远场信息,并能为相控阵天线通道校准和故障检测提供有效的手段。 展开更多
关键词 控阵天线 幅相性能测试 平面近场诊断 矢量旋转
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部