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用于辐照效应实验的带微处理器电路的故障测试系统
1
作者
毕增军
孙驰
范丽思
《电测与仪表》
北大核心
2003年第2期31-33,46,共4页
研制了一个用于对带微处理器电路进行辐照效应实验的故障测试系统,它既能自动检测出电磁脉冲(EMP)对电路的干扰,也能检测出EMP对电路的硬损伤。文中分别给出了干扰级和损伤级效应结果的测试方法,并用高功率微波脉冲对系统中的受试电路...
研制了一个用于对带微处理器电路进行辐照效应实验的故障测试系统,它既能自动检测出电磁脉冲(EMP)对电路的干扰,也能检测出EMP对电路的硬损伤。文中分别给出了干扰级和损伤级效应结果的测试方法,并用高功率微波脉冲对系统中的受试电路单元进行辐照效应实验,结果表明本系统能够完成各项检测功能。这为研究带微处理器电路的电磁防护措施提供了有力工具。
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关键词
电
磁脉冲
辐照效应
带微处理器电路
故障测试
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职称材料
题名
用于辐照效应实验的带微处理器电路的故障测试系统
1
作者
毕增军
孙驰
范丽思
机构
军械工程学院静电与电磁防护研究所
出处
《电测与仪表》
北大核心
2003年第2期31-33,46,共4页
基金
国家自然科学基金项目资助50077024
(重点)50237040
文摘
研制了一个用于对带微处理器电路进行辐照效应实验的故障测试系统,它既能自动检测出电磁脉冲(EMP)对电路的干扰,也能检测出EMP对电路的硬损伤。文中分别给出了干扰级和损伤级效应结果的测试方法,并用高功率微波脉冲对系统中的受试电路单元进行辐照效应实验,结果表明本系统能够完成各项检测功能。这为研究带微处理器电路的电磁防护措施提供了有力工具。
关键词
电
磁脉冲
辐照效应
带微处理器电路
故障测试
Keywords
EMP
irr adiation effect
microprocessor-based circuit
fault testing
分类号
TP27 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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作者
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1
用于辐照效应实验的带微处理器电路的故障测试系统
毕增军
孙驰
范丽思
《电测与仪表》
北大核心
2003
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