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SoC的可测试性设计技术
被引量：
4
1
作者
王永生
肖立伊
+1 位作者
毛志刚
叶以正
《同济大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第10期1271-1276,共6页
基于可复用的嵌入式IP(intellectualproperty)模块的系统级芯片 (SoC)设计方法使测试面临新的挑战 ,需要研究开发新的测试方法和策略 .结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术 ...
基于可复用的嵌入式IP(intellectualproperty)模块的系统级芯片 (SoC)设计方法使测试面临新的挑战 ,需要研究开发新的测试方法和策略 .结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术 ,分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及其优缺点 ,着重讨论了国际工业界内针对系统级芯片测试的方案 :IEEEP15 0 0和虚拟插座接口联盟 (VSIA)测试访问结构 .
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关键词
SOC
系统级芯片
可测试性设计
测试访问结构
芯片设计
芯片测试
嵌入式ip模块
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职称材料
题名
SoC的可测试性设计技术
被引量：
4
1
作者
王永生
肖立伊
毛志刚
叶以正
机构
哈尔滨工业大学微电子中心
出处
《同济大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第10期1271-1276,共6页
文摘
基于可复用的嵌入式IP(intellectualproperty)模块的系统级芯片 (SoC)设计方法使测试面临新的挑战 ,需要研究开发新的测试方法和策略 .结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术 ,分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及其优缺点 ,着重讨论了国际工业界内针对系统级芯片测试的方案 :IEEEP15 0 0和虚拟插座接口联盟 (VSIA)测试访问结构 .
关键词
SOC
系统级芯片
可测试性设计
测试访问结构
芯片设计
芯片测试
嵌入式ip模块
Keywords
system-on-ch
ip
design for testability
test access architecture
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
SoC的可测试性设计技术
王永生
肖立伊
毛志刚
叶以正
《同济大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
4
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