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嵌入式存储器内建自测试的原理及实现 被引量:15
1
作者 陆思安 何乐年 +1 位作者 沈海斌 严晓浪 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2004年第2期205-208,共4页
随着集成电路设计规模的不断增大 ,在芯片中特别是在系统芯片 SOC( system on a chip)中嵌入大量存储器的设计方法正变得越来越重要。文中详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实现原理 ,并给出了存储器内建自测试的一种典型实现。
关键词 嵌入存储器 存储器内建自测试 MARCH算法
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嵌入式高速DSP视频图像处理系统中数据存储器的接口设计 被引量:12
2
作者 李武森 迟泽英 陈文建 《红外技术》 CSCD 北大核心 2003年第1期51-53,57,共4页
探讨了高速DSP视频处理系统中外部数据存储器的容量、速度及与TMS32 0C6X的接口方法 ,设计了实际的接口电路 ,讨论了TMS32 0C6X的片内数据存储器及其地址冲突问题 ,以及视频处理过程中图像数据的存放问题。
关键词 嵌入 DSP 视频图像处理系统 数据存储器 接口设计 数字信号处理器 同步动态扫描存储器
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嵌入式存储器MBIST设计中内建自诊断功能研究 被引量:3
3
作者 王晓琴 黑勇 +1 位作者 吴斌 乔树山 《电子器件》 EI CAS 2005年第4期893-896,共4页
针对大规模嵌入式存储器可测性设计技术——存储器内建自测试(MBIST)中的故障诊断问题,介绍了MBIST设计的扩展功能——存储器内建自诊断(MBISD)。在引入存储器内建自测试的基础上,详细分析了存储器内建自诊断模块根据输出故障信息自动... 针对大规模嵌入式存储器可测性设计技术——存储器内建自测试(MBIST)中的故障诊断问题,介绍了MBIST设计的扩展功能——存储器内建自诊断(MBISD)。在引入存储器内建自测试的基础上,详细分析了存储器内建自诊断模块根据输出故障信息自动分析器件失效原因、并对失效单元进行故障定位和识别的基本原理及其中的关键算法,并用一块SRAM的MBIST设计(采用Mentor公司的MBISTArchitect完成)中的MBISD具体实例进行了仿真验证。存储器内建自诊断的应用,大大提高了存储器的成品率。 展开更多
关键词 嵌入存储器 存储器内建自测试 存储器内建自诊断
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一种专用可重配置的FPGA嵌入式存储器模块的设计和实现 被引量:7
4
作者 余慧 王健 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第2期215-222,共8页
本文设计了一种满足FPGA芯片专用定制需求的嵌入式可重配置存储器模块.一共8块,每块容量为18Kbits的同步双口BRAM,可以配置成16K×1bit、8K×2bits、4K×4bits、2K×9bits、1K×18bits、512×36bits六种不同的... 本文设计了一种满足FPGA芯片专用定制需求的嵌入式可重配置存储器模块.一共8块,每块容量为18Kbits的同步双口BRAM,可以配置成16K×1bit、8K×2bits、4K×4bits、2K×9bits、1K×18bits、512×36bits六种不同的位宽工作模式;write-first、no-change两种不同的写入模式.多个BRAM还可以通过FPGA中互连电路的级联来实现深度或宽度的扩展.本文重点介绍实现可重配置功能的电路及BRAM嵌入至FPGA中的互连电路.采用SMIC 0.13μm 8层金属CMOS工艺,产生FDP-II芯片的完整版图并成功流片,芯片面积约为4.5mm×4.4mm.运用基于March C+算法的MBIST测试方法,软硬件协同测试,结果表明FDP-II中的BRAM无任何故障,可重配置功能正确,证实了该存储器模块的设计思想. 展开更多
关键词 嵌入存储器 可重配置 FPGA 互连 灵敏放大器
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嵌入式可编程存储器设计中的“选择性寄存”方法 被引量:3
5
作者 蔡刚 杨海钢 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2009年第11期2762-2766,共5页
该文提出一种"选择性寄存"的方法用于解决同步双端口存储器IP同时对同一地址进行读写操作时造成的读出数据丢失的问题。利用该方法,通过使用同步双端口存储器IP和标准单元来设计嵌入式可编程存储器,可减小设计的复杂度、增强... 该文提出一种"选择性寄存"的方法用于解决同步双端口存储器IP同时对同一地址进行读写操作时造成的读出数据丢失的问题。利用该方法,通过使用同步双端口存储器IP和标准单元来设计嵌入式可编程存储器,可减小设计的复杂度、增强设计的可移植性,从而大大缩短嵌入式可编程存储器的开发周期。该文设计的嵌入式可编程存储器采用SMIC 0.18 μm 1P6M CMOS工艺流片。测试结果表明,与相近工艺尺寸、相同存储容量的全定制嵌入式可编程存储器相比,它们在功能上兼容,在性能上相当。 展开更多
关键词 嵌入可编程存储器 选择性寄存 存储器IP 标准单元
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嵌入式系统的存储器测试方法及其应用 被引量:2
6
作者 丁有志 杨镇西 +1 位作者 王继 朱建军 《信息工程大学学报》 2004年第4期50-53,共4页
文章对嵌入式系统设计中存储器常见问题进行了分析,介绍了一种快速有效的存储器测试方法,并以MPC860通信处理器为CPU的系统为例,详细描述了如何实际应用该测试方法。
关键词 嵌入系统 存储器 MPC860
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基于Flash存储器的嵌入式文件系统设计 被引量:2
7
作者 吉峰 白瑞林 《江南大学学报(自然科学版)》 CAS 2006年第1期1-5,共5页
针对Flash存储器的特点,设计了一种适合开源实时操作的嵌入式文件系统.该系统设计依据日志文件系统原理,实现了Flash存储器和内存中的数据结构及特殊处理机制,并基于μC/OS-II和三星S4510B完成了该文件系统的测试.该嵌入式文件系统可进... 针对Flash存储器的特点,设计了一种适合开源实时操作的嵌入式文件系统.该系统设计依据日志文件系统原理,实现了Flash存储器和内存中的数据结构及特殊处理机制,并基于μC/OS-II和三星S4510B完成了该文件系统的测试.该嵌入式文件系统可进行断电恢复,其代码精简,占用系统资源少,执行效率高,有较高的安全性. 展开更多
关键词 FLASH存储器 嵌入 文件系统
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嵌入式存储器内建自修复电路的一种改进设计 被引量:1
8
作者 王丽 王友仁 施玉霞 《高技术通讯》 CAS CSCD 北大核心 2008年第2期162-166,共5页
研究了存储器内建自测试(MBIST)和存储器自修复(MBISR)技术,改进了基于一维冗余(冗余行块)结构的嵌入式存储器修复策略。首先将存储阵列和冗余阵列划分为多个行块,然后采用存储器自测试方法定位故障单元的行地址和行块地址,最后任何可... 研究了存储器内建自测试(MBIST)和存储器自修复(MBISR)技术,改进了基于一维冗余(冗余行块)结构的嵌入式存储器修复策略。首先将存储阵列和冗余阵列划分为多个行块,然后采用存储器自测试方法定位故障单元的行地址和行块地址,最后任何可利用的冗余块可以被用来修复故障单元。通过16×32比特静态随机存取存储器(SRAM)的电路自修复实验,验证了该修复策略的可行性和较高的故障修复率。与传统的基于一维冗余结构的修复策略相比,该修复策略提高了替代故障单元方法的灵活性和冗余资源利用率,从而提高了存储器的故障修复率。 展开更多
关键词 行块 存储阵列 芯片电子系统 嵌入存储器 自测试 自修复
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嵌入式存储器的内建自测试算法及测试验证 被引量:3
9
作者 林晓伟 郑学仁 +2 位作者 刘汉华 闾晓晨 万艳 《中国集成电路》 2006年第2期77-80,共4页
嵌入式存储器的广泛应用使得内建自测试(BIST,Built-In Self-Test)在当前SoC设计中具有重要的作用,本文着重分析比较了几种BIST测试算法,并对嵌入式BIST的体系结构进行了剖析,最后深入研究了MARCH C-算法的实际应用,使用UMC.18SRAM和2P... 嵌入式存储器的广泛应用使得内建自测试(BIST,Built-In Self-Test)在当前SoC设计中具有重要的作用,本文着重分析比较了几种BIST测试算法,并对嵌入式BIST的体系结构进行了剖析,最后深入研究了MARCH C-算法的实际应用,使用UMC.18SRAM和2PRAM仿真模型对存储器的BIST测试进行了验证,并成功将其应用于一款USB音视频芯片。 展开更多
关键词 嵌入存储器 测试验证 测试算法 BIST 内建自测试 SOC设计 MARCH 体系结构 仿真模型 SRAM
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嵌入式高速固态存储器的设计 被引量:2
10
作者 管振辉 《舰船电子对抗》 2013年第1期97-99,108,共4页
现代的数据处理技术需要较快的数据采样率和较宽的数据带宽,这就要求采用嵌入式高速固态存储器来实时记录海量的数据。介绍了NAND FLASH的选型、嵌入式高速固态存储器的组成原理、现场可编程门阵列(FPGA)的实现逻辑及存储器的性能计算,... 现代的数据处理技术需要较快的数据采样率和较宽的数据带宽,这就要求采用嵌入式高速固态存储器来实时记录海量的数据。介绍了NAND FLASH的选型、嵌入式高速固态存储器的组成原理、现场可编程门阵列(FPGA)的实现逻辑及存储器的性能计算,最后对本设计进行了总结和展望。 展开更多
关键词 嵌入固态存储器 硬件设计 现场可编程门阵列
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嵌入式与独立存储器设计上的差异分析和研究
11
作者 李强 《现代电子技术》 2006年第19期91-93,共3页
进入21世纪,随着集成电路的发展,SoC(System on Chip)片上系统应运而生。而作为SoC重要组成部分的嵌入式存储器,在SoC中所占的比重正逐步增加,并起着越来越重要的作用,那么嵌入式存储器与独立的存储器芯片在设计上存在着哪些差异?对此... 进入21世纪,随着集成电路的发展,SoC(System on Chip)片上系统应运而生。而作为SoC重要组成部分的嵌入式存储器,在SoC中所占的比重正逐步增加,并起着越来越重要的作用,那么嵌入式存储器与独立的存储器芯片在设计上存在着哪些差异?对此本文将以NOR型闪存为例在制造工艺的选取、衍生产品的设计、功耗与噪声、后端功能仿真、测试与修复等方面进行分析和研究。 展开更多
关键词 片上系统 嵌入存储器 独立存储器 NOR型闪存
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嵌入式存储器空间单粒子效应失效率评估方法研究 被引量:4
12
作者 支天 杨海钢 +3 位作者 蔡刚 秋小强 李天文 王新刚 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2014年第12期3035-3041,共7页
嵌入式存储器易受到空间单粒子效应(Single-Event Effects,SEE)的影响。该文提出了一种单粒子效应失效率评估的方法,包含了单粒子翻转和单粒子瞬态扰动等效应对嵌入式存储器不同电路单元的具体影响,可对不同存储形式、不同容错方法的嵌... 嵌入式存储器易受到空间单粒子效应(Single-Event Effects,SEE)的影响。该文提出了一种单粒子效应失效率评估的方法,包含了单粒子翻转和单粒子瞬态扰动等效应对嵌入式存储器不同电路单元的具体影响,可对不同存储形式、不同容错方法的嵌入式存储器单粒子效应失效率进行定量评估。该文提出的评估方法在中国科学院电子学研究所自主研制的嵌入式可编程存储器试验芯片上得到了验证,地面单粒子模拟实验表明该文方法预测的失效率评估结果与实验测试结果的平均偏差约为10.5%。 展开更多
关键词 片上系统 嵌入存储器 单粒子效应(SEE) 失效率 评估
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嵌入式存储器的内建自修复设计 被引量:6
13
作者 吴志伟 邹雪城 +1 位作者 雷鑑铭 刘勇 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2007年第2期79-81,84,共4页
目前,关于嵌入式存储器的内建自测试(MBIST)技术已经日趋成熟。基于这种背景,研究了一种高效的内建自修复(MBISR)方法,试验表明它具有低面积开销和高修复率等优点,保证了嵌入式存储器不仅可测,而且可修复,极大地提高了芯片的成品率。
关键词 嵌入存储器 内建自测试 内建自修复
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SoC嵌入式flash存储器的内建自测试设计 被引量:8
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作者 鉴海防 王占和 +1 位作者 李印增 张昭勇 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2005年第4期87-91,共5页
深亚微米技术背景下,嵌入式存储器在片上系统芯片(system-on-a-chip,SoC)中占有越来越多的芯片面积,嵌入式存储器的测试正面临诸多新的挑战。本文论述了两种适合SoC芯片中嵌入式flash存储器的内建自测试设计方案。详细讨论了专用硬件方... 深亚微米技术背景下,嵌入式存储器在片上系统芯片(system-on-a-chip,SoC)中占有越来越多的芯片面积,嵌入式存储器的测试正面临诸多新的挑战。本文论述了两种适合SoC芯片中嵌入式flash存储器的内建自测试设计方案。详细讨论了专用硬件方式内建自测试的设计及其实现,并且提出了一种新型的软硬协同方式的内建自测试设计。这种新型的测试方案目标在于结合专用硬件方式内建自测试方案并有效利用SoC芯片上现有的资源,以保证满足测试过程中的功耗限制,同时在测试时间和芯片面积占用及性能之间寻求平衡。最后对两种方案的优缺点进行了分析对比。 展开更多
关键词 片上系统 嵌入flash存储器 内建自测试 封装器
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嵌入式存储器的测试及可测性设计研究
15
作者 丁学君 田勇 《世界电子元器件》 2012年第11期45-47,55,共4页
引言近年来,消费者对电子产品的更高性能和更小尺寸的要求持续推动着SoC(系统级芯片)产品集成水平的提高,并促使其具有更多的功能和更好的性能。要继续推动这种无止境的需求以及继续解决器件集成领域的挑战,最关键的是要在深亚微米半... 引言近年来,消费者对电子产品的更高性能和更小尺寸的要求持续推动着SoC(系统级芯片)产品集成水平的提高,并促使其具有更多的功能和更好的性能。要继续推动这种无止境的需求以及继续解决器件集成领域的挑战,最关键的是要在深亚微米半导体的设计、工艺、封装和测试领域获得持续的进步。SoC是采用IP复用技术的一种标准设计结构,在多功能电子产品中得到了广泛的应用。 展开更多
关键词 可测性设计 嵌入存储器 测试 产品集成 电子产品 系统级芯片 深亚微米 设计结构
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基于FPGA和VHDL的嵌入式存储器控制器设计 被引量:7
16
作者 安书董 李明 +2 位作者 段小虎 解文涛 路辉 《航空计算技术》 2017年第1期124-127,共4页
主要研究一种新型嵌入式对存储器的控制方法,不同于以往采用专用控制器来进行控制,而是基于可编程逻辑器件(FPGA)的手段来实现对存储器的控制。可以解决传统方法低灵活性、不可擦写的瓶颈问题。采用VHDL语言实现控制逻辑,由FPGA向存储... 主要研究一种新型嵌入式对存储器的控制方法,不同于以往采用专用控制器来进行控制,而是基于可编程逻辑器件(FPGA)的手段来实现对存储器的控制。可以解决传统方法低灵活性、不可擦写的瓶颈问题。采用VHDL语言实现控制逻辑,由FPGA向存储器发送读写信号,实现对存储器的读写操作。同时,在Xilinx开发环境进行综合,编写测试码进行仿真,通过仿真结果表明方法实现存储器正常工作所需要的读写时序,证明其正确性。 展开更多
关键词 嵌入存储器 可编程逻辑器件 VHDL语言 Xilinx环境
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嵌入式系统中存储器性能研究 被引量:1
17
作者 石磊 袁杰 《现代电子技术》 2012年第2期13-16,共4页
动态随机存储器是嵌入式系统的一个重要组成部分,而动态随机存储器故障是嵌入式系统故障的一个主要原因之一。在此从动态随机存储器的结构和失效模型出发,有针对地提出了用于检测性能的数据和读写方式,实验证明通过提出的检测方法能够... 动态随机存储器是嵌入式系统的一个重要组成部分,而动态随机存储器故障是嵌入式系统故障的一个主要原因之一。在此从动态随机存储器的结构和失效模型出发,有针对地提出了用于检测性能的数据和读写方式,实验证明通过提出的检测方法能够有效地找出潜在的存储器故障,从而能够为嵌入式系统设计人员提供改善系统性能的方法和途径。 展开更多
关键词 嵌入系统 动态随机存储器 故障检测 失效模型
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嵌入式存储器内建自测试的一种新型应用 被引量:3
18
作者 孙华义 郑学仁 +2 位作者 闾晓晨 王颂辉 吴焯焰 《中国集成电路》 2007年第11期82-87,共6页
当今,嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,成为SoC芯片发展的一个显著特点。由于本身单元密度很高,嵌入式存储器比芯片上面的其它元件更容易造成硅片缺陷,成为影响芯片成品率的一个重要因素。本文对采用MARCH-C算法的嵌入... 当今,嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,成为SoC芯片发展的一个显著特点。由于本身单元密度很高,嵌入式存储器比芯片上面的其它元件更容易造成硅片缺陷,成为影响芯片成品率的一个重要因素。本文对采用MARCH-C算法的嵌入式存储器内建自测试进行了改进,实现了对嵌入式存储器故障的检测和定位,能够准确判断故障地址和故障类型,使嵌入式存储器故障修复更加快捷、准确,同时达到故障覆盖率高、测试时间短的目的。 展开更多
关键词 SOC 嵌入存储器 MARCH算法 故障检测
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基于March算法的嵌入式存储器BIST技术 被引量:1
19
作者 刁双君 《黑龙江科技信息》 2015年第30期153-,共1页
目前应用最多的存储器就是嵌入式存储器,这一类型的存储器在长期的发展进程中,规模和容量逐渐扩大,这就使得针对存储器的测试时间以及成本都相应的增加,为了能够使得存储器的测试成本相应减少,优化嵌入式存储器的测试时间,就需要合理的... 目前应用最多的存储器就是嵌入式存储器,这一类型的存储器在长期的发展进程中,规模和容量逐渐扩大,这就使得针对存储器的测试时间以及成本都相应的增加,为了能够使得存储器的测试成本相应减少,优化嵌入式存储器的测试时间,就需要合理的应用BIST技术,并且在March算法的基础上,更好的发挥出BIST技术的应用效应。本文主要就基于March算法的嵌入式存储器BIST技术进行了简要的分析,仅供同行交流。 展开更多
关键词 MARCH算法 嵌入存储器 BIST技术
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下一代手机设计中的嵌入式存储器 被引量:1
20
作者 David Janas 《电子产品世界》 2006年第05X期80-82,共3页
关键词 嵌入存储器 手机设计 一代 JAVA应用程序 设计人员 因特网接入 EMAIL MP3音乐 无线网络 即时通信
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