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片状元件的自动光学检测算法
1
作者
武剑洁
王永欣
+1 位作者
邱德红
方少红
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第7期198-199,208,共3页
表面贴装自动光学检测算法大多存在计算速度慢或对元件位置差异及图像变异敏感的问题。该文针对片状元件提出一种检测算法,根据元件局部特征区域的灰度变化,通过引入局部主波概率,利用主波特性描述标本图像与被测元件图像之间的相似度,...
表面贴装自动光学检测算法大多存在计算速度慢或对元件位置差异及图像变异敏感的问题。该文针对片状元件提出一种检测算法,根据元件局部特征区域的灰度变化,通过引入局部主波概率,利用主波特性描述标本图像与被测元件图像之间的相似度,从而判断元件是否存在缺陷并确定缺陷种类。实验表明,该算法可缩小检测范围,降低计算量,提高算法适应性。
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关键词
自动光学检测
片状元件
局部主波概率
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职称材料
题名
片状元件的自动光学检测算法
1
作者
武剑洁
王永欣
邱德红
方少红
机构
华中科技大学软件学院
出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第7期198-199,208,共3页
基金
国家部委基金资助项目
文摘
表面贴装自动光学检测算法大多存在计算速度慢或对元件位置差异及图像变异敏感的问题。该文针对片状元件提出一种检测算法,根据元件局部特征区域的灰度变化,通过引入局部主波概率,利用主波特性描述标本图像与被测元件图像之间的相似度,从而判断元件是否存在缺陷并确定缺陷种类。实验表明,该算法可缩小检测范围,降低计算量,提高算法适应性。
关键词
自动光学检测
片状元件
局部主波概率
Keywords
Automatic Optical Inspection（AOI）
chip component
local principal wave probability
分类号
TP311 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
片状元件的自动光学检测算法
武剑洁
王永欣
邱德红
方少红
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2009
0
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