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大面积高分辨率CsI(Tl)X射线转换屏实验研究 被引量:1
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作者 廖华 胡昕 +3 位作者 杨勤劳 王光超 王云程 阔晓梅 《深圳大学学报(理工版)》 EI CAS 北大核心 2014年第2期174-178,共5页
通过对X射线转换屏制备过程中,Tl+掺杂浓度、基底刻蚀、晶柱生长过程和防潮解等方面的大量实验研究,得到最佳掺杂浓度(摩尔比为0.055%)及合适的基底刻蚀深度(5μm)与工艺,实现对晶柱生长过程中表面形貌、温度、压力和转速的控制,研制出... 通过对X射线转换屏制备过程中,Tl+掺杂浓度、基底刻蚀、晶柱生长过程和防潮解等方面的大量实验研究,得到最佳掺杂浓度(摩尔比为0.055%)及合适的基底刻蚀深度(5μm)与工艺,实现对晶柱生长过程中表面形貌、温度、压力和转速的控制,研制出有效直径为100 mm、空间分辨率约为12lp/mm(厚度为300μm)的CsI(Tl)X射线转换屏. 展开更多
关键词 数字成像 掺杂浓度 基底刻蚀 晶柱生长 空间分辨 X射线转换屏
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闪烁体型γ射线-荧光图像转换屏点扩散函数理论研究 被引量:6
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作者 马继明 王奎禄 +2 位作者 宋顾周 张建奇 王群书 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第4期473-478,共6页
闪烁体型γ射线-荧光图像转换屏是数字化辐射成像系统中的重要部件,射线与闪烁体相互作用产生的荧光弥散效应,对成像系统及其获取图像的空间分辨具有重要影响。闪烁体型γ射线-荧光图像转换屏的荧光弥散效应通常采用点扩散函数(PSF)来... 闪烁体型γ射线-荧光图像转换屏是数字化辐射成像系统中的重要部件,射线与闪烁体相互作用产生的荧光弥散效应,对成像系统及其获取图像的空间分辨具有重要影响。闪烁体型γ射线-荧光图像转换屏的荧光弥散效应通常采用点扩散函数(PSF)来描述。目前,采用蒙特卡罗(MC)方法进行模拟计算,仍是确定该函数的最常用和有效方法。以LSO无机晶体和ST-401塑料闪烁体为代表,研究影响闪烁体型γ射线-荧光图像转换屏PSF的主要因素,具体分析其随闪烁体厚度、入射射线能量的变化规律,以及闪烁体中散射射线对其PSF的贡献,为辐射成像应用提供参考。同时对所发现的现象和规律进行了理论解释。 展开更多
关键词 闪烁体 射线-荧光图像转换 点扩散函数 辐射成像
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X射线实时成像器件缺陷校正方法的研究 被引量:1
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作者 杜剑 魏东波 路宏年 《北京航空航天大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第1期50-53,共4页
对于由射线转换屏和CCD相机组成的X射线实时成像系统而言 ,成像器件缺陷是影响系统成像质量的重要因素 .结合工程实践 ,分析了射线转换屏缺陷、CCD像元光响应不一致性等成像器件缺陷的特性及其成像规律 ,提出了一种数学模型和成像器件... 对于由射线转换屏和CCD相机组成的X射线实时成像系统而言 ,成像器件缺陷是影响系统成像质量的重要因素 .结合工程实践 ,分析了射线转换屏缺陷、CCD像元光响应不一致性等成像器件缺陷的特性及其成像规律 ,提出了一种数学模型和成像器件缺陷校正方法 .实验结果表明 。 展开更多
关键词 放射照相 图像处理 灰度 射线转换屏
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