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大功率发光二极管可靠性和寿命评价试验方法
被引量：
29
1
作者
贺卫利
郭伟玲
+4 位作者
高伟
史辰
陈曦
吴娟
陈建新
《应用光学》
CAS
CSCD
2008年第4期533-536,561,共5页
介绍了发光二极管(LED)的发展简史。提出可能影响LED可靠性的几种因素,主要有封装中的散热问题和LED本身材料缺陷。对于LED可靠性,主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性,一般采取加速实验的方法来测试推导LED寿命。介绍了根据加速应...
介绍了发光二极管(LED)的发展简史。提出可能影响LED可靠性的几种因素,主要有封装中的散热问题和LED本身材料缺陷。对于LED可靠性,主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性,一般采取加速实验的方法来测试推导LED寿命。介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价LED寿命的测试方法。在不同加速试验应力条件下测试了大功率LED可靠性,并建立了LED寿命的几种数学模型。最后根据具体实例,通过选择加速应力和试验方法,给出具体推导LED寿命的数学公式。
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关键词
发光二极管
寿命评价试验方法
加速应力
数学模型
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职称材料
题名
大功率发光二极管可靠性和寿命评价试验方法
被引量：
29
1
作者
贺卫利
郭伟玲
高伟
史辰
陈曦
吴娟
陈建新
机构
北京工业大学电控学院光电子技术实验室
出处
《应用光学》
CAS
CSCD
2008年第4期533-536,561,共5页
基金
北京市教委项目(10200650)
文摘
介绍了发光二极管(LED)的发展简史。提出可能影响LED可靠性的几种因素,主要有封装中的散热问题和LED本身材料缺陷。对于LED可靠性,主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性,一般采取加速实验的方法来测试推导LED寿命。介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价LED寿命的测试方法。在不同加速试验应力条件下测试了大功率LED可靠性,并建立了LED寿命的几种数学模型。最后根据具体实例,通过选择加速应力和试验方法,给出具体推导LED寿命的数学公式。
关键词
发光二极管
寿命评价试验方法
加速应力
数学模型
Keywords
light-emitting diode （LED）
testing method of lifetime evaluation
accelerated stress
mathematical model
分类号
TN384 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
大功率发光二极管可靠性和寿命评价试验方法
贺卫利
郭伟玲
高伟
史辰
陈曦
吴娟
陈建新
《应用光学》
CAS
CSCD
2008
29
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