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导电聚合物薄膜电阻率测量系统的设计
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作者 付庆波 王锐 +3 位作者 曹包华 王金明 王红波 赵纯 《现代电子技术》 2011年第6期144-147,共4页
介绍一种实用的导电聚合物薄膜电阻率测量系统。电阻率的测量原理基于四探针法与比率测量法,以低值恒压激励代替恒流激励,使2种方法结合在一起;然后以ARM7微控制器为系统核心,构建了量程自适应的半自动式系统架构;对电路实际能达到的分... 介绍一种实用的导电聚合物薄膜电阻率测量系统。电阻率的测量原理基于四探针法与比率测量法,以低值恒压激励代替恒流激励,使2种方法结合在一起;然后以ARM7微控制器为系统核心,构建了量程自适应的半自动式系统架构;对电路实际能达到的分辨率和设计要求分辨率进行详细的分析;最后测量了系列标准电阻和部分导电聚合物薄膜样品的电阻率值,与标准方法进行了对比,分析了系统各项指标。 展开更多
关键词 电阻率 四探针 比率测量法 导电聚合物薄膜
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聚合物基透明导电薄膜断裂韧性的测量方法
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作者 周佳丽 张旋 +1 位作者 张晓锋 颜悦 《实验室研究与探索》 CAS 北大核心 2024年第2期23-27,32,共6页
在航空透明件领域,厚聚合物基底上透明导电薄膜的断裂韧性是量化抗开裂性的关键力学特性,因此基于纳米压痕和通道开裂试验评估了薄膜的断裂韧性。采用磁控溅射法将氧化铟锡(ITO)薄膜沉积在聚碳酸酯(PC)基底上。纳米压痕试验中,纳米压痕... 在航空透明件领域,厚聚合物基底上透明导电薄膜的断裂韧性是量化抗开裂性的关键力学特性,因此基于纳米压痕和通道开裂试验评估了薄膜的断裂韧性。采用磁控溅射法将氧化铟锡(ITO)薄膜沉积在聚碳酸酯(PC)基底上。纳米压痕试验中,纳米压痕在ITO薄膜上引起脆性断裂,通过对所得的载荷-深度曲线进行积分来计算断裂韧性;通道开裂试验中,使用原位拉伸法获得开裂应变,并结合力学模型计算断裂韧性。结果表明,不考虑残余应力时,2种测试方法获得了相对一致的断裂韧性,500 nm厚ITO薄膜的断裂韧性为1.62~1.81 MPa·m^(1/2);对于200 nm以下厚度的薄膜或存在大残余应力的薄膜,宜选择通道开裂试验以确定断裂韧性。 展开更多
关键词 聚合物基透明导电薄膜 断裂韧性 纳米压痕 通道开裂 原位试验
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喷墨印刷沉积的PEDOT/PSS薄膜导电性能 被引量:4
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作者 景亚霓 胡文华 +3 位作者 张平 魏志芬 唐正宁 钟传杰 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2010年第5期656-660,共5页
利用压电喷墨印刷技术沉积了PEDOT/PSS有机导电薄膜,研究了退火温度和乙二醇掺杂对薄膜导电性能的影响。实验结果表明:未退火和退火温度为120,140,160℃时,薄膜表面平均粗糙度分别为8.15,4.10,3.36,2.66nm;乙二醇掺杂使导电激活能由未... 利用压电喷墨印刷技术沉积了PEDOT/PSS有机导电薄膜,研究了退火温度和乙二醇掺杂对薄膜导电性能的影响。实验结果表明:未退火和退火温度为120,140,160℃时,薄膜表面平均粗糙度分别为8.15,4.10,3.36,2.66nm;乙二醇掺杂使导电激活能由未掺杂时的0.096eV减小为0.046eV;电导激活能减小表明PEDOT分子链从低电导率的卷曲构象向高电导率的伸展构象转变;此外,乙二醇掺杂促使PSS与PE-DOT/PSS分离,使团聚的PEDOT/PSS颗粒变小从而分散更均匀,降低了表面粗糙度。 展开更多
关键词 PEDOT/PSS 喷墨印刷 导电聚合物薄膜 导电性能
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