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题名屏蔽壳体上的“导线驱动孔径”电磁泄漏现象研究
被引量：1
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作者
孟东林
沙斐
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机构
北京交通大学电信学院电磁兼容实验室
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出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2007年第4期41-45,共5页
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文摘
采用有限元法,分析了在屏蔽壳体上的孔径中穿入导线时对电磁泄漏的影响情况,并给出了实测数据、等效电路模型和物理解释。与一般的孔缝泄漏情况不同,当孔径中央有导线穿过时,电磁能量泄漏现象显著增强。即使穿入的导线总长度相同,导线向屏蔽壳体内部延伸越多则泄漏越严重。若孔径中穿入的导线与壳体相接触则电磁泄漏现象比较复杂。孔径中穿入导线以后,其泄漏效果仿佛是向孔径中加入了一个泄漏驱动源,因此称为"导线驱动孔径"。
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关键词
孔缝泄漏
屏蔽效能
导体驱动孔径
有限元方法
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Keywords
aperture leakage, shielding effectiveness, conductor driving aperture, FEM
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分类号
TP973.1
[自动化与计算机技术]
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