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粗糙表面轮廓的对角线切片谱分析
被引量：
1
1
作者
李成贵
《中国机械工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第2期124-127,共4页
针对双谱估计存在的计算量庞大、估计精度较差、显示不够直观等缺点 ,提出了一种改进的对角线切片谱分析方法 ,并把它用于粗糙表面轮廓的非对称性和耦合性特征分析。实验结果表明 ,该方法简单、合理 ,而且有可能揭示加工过程中引起表面...
针对双谱估计存在的计算量庞大、估计精度较差、显示不够直观等缺点 ,提出了一种改进的对角线切片谱分析方法 ,并把它用于粗糙表面轮廓的非对称性和耦合性特征分析。实验结果表明 ,该方法简单、合理 ,而且有可能揭示加工过程中引起表面粗糙度间距和高度参数变化的原因。
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关键词
粗糙度
双
谱
对角线切片谱
谱
分析
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职称材料
题名
粗糙表面轮廓的对角线切片谱分析
被引量：
1
1
作者
李成贵
机构
北京航空航天大学自动化学院
出处
《中国机械工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第2期124-127,共4页
文摘
针对双谱估计存在的计算量庞大、估计精度较差、显示不够直观等缺点 ,提出了一种改进的对角线切片谱分析方法 ,并把它用于粗糙表面轮廓的非对称性和耦合性特征分析。实验结果表明 ,该方法简单、合理 ,而且有可能揭示加工过程中引起表面粗糙度间距和高度参数变化的原因。
关键词
粗糙度
双
谱
对角线切片谱
谱
分析
Keywords
roughness
bispectrum
diagonal slice spectrum
spectrum analysis
分类号
TP84 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
TH161 [机械工程—机械制造及自动化]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
粗糙表面轮廓的对角线切片谱分析
李成贵
《中国机械工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004
1
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