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光学镀膜宽带膜厚监控系统 被引量:21
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作者 刘晓元 黄云 +1 位作者 周宁平 龙兴武 《国防科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第1期23-27,共5页
针对过去的宽带膜厚监控法必须依赖镀制前设定的目标透射率 (反射率 )的固有缺陷 ,提出了在蒸镀过程中及时拟合出所镀层的膜厚、色散系数 (折射率 )等参数 ,并据此不断修正目标透射率 (反射率 )的设想 ,从而从根本上克服过去的宽带膜厚... 针对过去的宽带膜厚监控法必须依赖镀制前设定的目标透射率 (反射率 )的固有缺陷 ,提出了在蒸镀过程中及时拟合出所镀层的膜厚、色散系数 (折射率 )等参数 ,并据此不断修正目标透射率 (反射率 )的设想 ,从而从根本上克服过去的宽带膜厚监控法的固有缺陷。建立了基于修正膜层目标光谱特性的宽带膜厚监控系统 ,阐述了它的结构和工作原理。进行了稳定性实验及一系列镀膜监控实验 ,实验结果表明 ,该系统透射率的重复测量精度优于 2‰ ,膜厚监控精度较高 ,重复性好 ,各层的终点膜厚判定精度优于 1 %。 展开更多
关键词 光学薄 监测 宽带膜厚监控系统
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制膜技术与装置
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《中国光学》 EI CAS 2002年第2期76-77,共2页
TB43 2002021346用于铁电存储器的 PZT 薄膜的制备与性能=Proper-ties of PZT thin films prepared by MOD methodfor ferroelectric memories[刊,中]/林殷茵,汤庭螯,黄维宁,宋浩然(复旦大学电子工程系微电子所.上海(200433))∥固体电... TB43 2002021346用于铁电存储器的 PZT 薄膜的制备与性能=Proper-ties of PZT thin films prepared by MOD methodfor ferroelectric memories[刊,中]/林殷茵,汤庭螯,黄维宁,宋浩然(复旦大学电子工程系微电子所.上海(200433))∥固体电子学研究与进展.—2001,21(2).—234-238。 展开更多
关键词 光学薄 铁电存储器 研究与进展 宽带膜厚监控 制备与性能 制备工艺 大口径 等离子辅助镀 等离子体辅助沉积 光催化活性
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