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基于故障监控的CPU测试平台设计
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作者 刘宏琨 王志立 +2 位作者 王一伟 张凯虹 奚留华 《电子与封装》 2025年第2期25-29,共5页
通过ATE结合实装系统实现了CPU芯片测试。基于回环测试技术实现CPU芯片的PCIe和UART接口测试,通过外挂Flash芯片实现CPU芯片SPI接口的读写性能测试、擦除测试、数据保持测试,通过外挂DDR4芯片实现CPU芯片的内存延迟、时间参数测试。通... 通过ATE结合实装系统实现了CPU芯片测试。基于回环测试技术实现CPU芯片的PCIe和UART接口测试,通过外挂Flash芯片实现CPU芯片SPI接口的读写性能测试、擦除测试、数据保持测试,通过外挂DDR4芯片实现CPU芯片的内存延迟、时间参数测试。通过设计实装系统故障诊断定位装置并外挂EEPROM芯片实现CPU芯片测试温度实时监控,提高了测试效率。 展开更多
关键词 ATE测试 实装测试 测试板设计 故障诊断
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SiP芯片测试系统的设计 被引量:1
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作者 王庆贺 黎蕾 +1 位作者 郑利华 顾林 《电子设计工程》 2024年第3期143-147,共5页
系统级封装(System in Package,SiP)电路包含多个功能的裸芯片,具有尺寸小、功耗低、性能高等优点,应用广泛,但结构、功能复杂,如何进行可靠性评价越来越得到关注。针对SiP电路的可靠性评价问题,设计了一套SiP电路测试系统。该测试系统... 系统级封装(System in Package,SiP)电路包含多个功能的裸芯片,具有尺寸小、功耗低、性能高等优点,应用广泛,但结构、功能复杂,如何进行可靠性评价越来越得到关注。针对SiP电路的可靠性评价问题,设计了一套SiP电路测试系统。该测试系统包含相应的软件和硬件,主要实现对SiP电路的实装测试、ATE(Automatic Test Equipment)测试和老化测试,使用该测试系统能够筛选出故障电路,实现电路的可靠性评价。 展开更多
关键词 SIP 实装测试 ATE测试 老化测试 测试系统
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卫星干扰环境下惯性/卫星组合导航系统性能试验方法 被引量:1
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作者 李永涛 常岗 刘振亚 《河北省科学院学报》 CAS 2019年第4期29-35,共7页
本文针对靶场惯性/卫星组合导航系统试验现状和不足,阐述了开展组合导航系统抗干扰性能测试的必要性,并分别从实装试验和仿真试验两方面,论述了测试实现的方法,通过实装测试和仿真试验案例,验证了方法的可行性。
关键词 惯性/卫星组合导航 卫星干扰 实装测试 仿真测试
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