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聚乙烯载流子迁移率与空间电荷包形成机理 被引量:10
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作者 田冀焕 周远翔 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第12期2882-2888,共7页
空间电荷包现象是电介质绝缘材料即将发生击穿破坏的重要标志。现有理论分析与仿真结果表明,电介质中载流子迁移率与场强的非线性关系是电荷包形成的重要条件。然而,此非线性关系的物理机制尚不清楚。为此,针对迁移率与场强的非线性关... 空间电荷包现象是电介质绝缘材料即将发生击穿破坏的重要标志。现有理论分析与仿真结果表明,电介质中载流子迁移率与场强的非线性关系是电荷包形成的重要条件。然而,此非线性关系的物理机制尚不清楚。为此,针对迁移率与场强的非线性关系展开研究,旨在解释聚乙烯材料中空间电荷包的形成机理。基于聚乙烯材料的定域态密度分布函数,利用以跳跃电导方式运动的电子性载流子迁移率公式,计算得到并分析了不同场强、最深陷阱中心能级与陷阱浓度等条件下的迁移率-载流子浓度关系。在迁移率的计算中,采用数值方法计算了Fermi能级,相对于解析近似方法具有更高的精度。迁移率的计算结果印证了陷阱填充效应的存在:随着陷阱不断被填充,新注入的载流子将受陷于较浅的陷阱,从而导致载流子的平均迁移率有较大提高。基于这种陷阱对载流子迁移率的调制作用,通过定性分析得出结论:电荷包运动方向后方的载流子对陷阱的填充效应可以使电荷包前后沿载流子的速度基本一致,从而为空间电荷包的形成和维持提供了一种可能的解释。 展开更多
关键词 聚乙烯 迁移率 定域态密度(DOLS) 费米能级 空间电荷包 陷阱填充效应
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简单晶格的簇—Bethe格模型
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作者 朱宏耀 江元生 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 1993年第4期473-478,共6页
以局域作用为出发点,用簇-Bethe 格子模型讨论了固体定域态密度的定域环境的特征.示范计算了体心立方、面心立方和简单立方三种格子的稳定化能.结果表明,电子半充满时,体心立方是最稳定的结构,从而在拓扑近似下解释了第Ⅰ主族和第Ⅳ副... 以局域作用为出发点,用簇-Bethe 格子模型讨论了固体定域态密度的定域环境的特征.示范计算了体心立方、面心立方和简单立方三种格子的稳定化能.结果表明,电子半充满时,体心立方是最稳定的结构,从而在拓扑近似下解释了第Ⅰ主族和第Ⅳ副族单质的晶体结构. 展开更多
关键词 簇-Bethe格 定域态密度 稳定性
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