期刊文献+
共找到4篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
电纺直写纳米纤维在图案化基底的定位沉积 被引量:12
1
作者 李文望 郑高峰 +1 位作者 王翔 孙道恒 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第10期2231-2238,共8页
为进一步提高单根电纺丝纳米纤维的定位沉积和形貌控制水平,基于近场静电纺丝技术,研究了单根直写纳米纤维在无图案硅基底的沉积行为;仿真分析了图案化硅基底上方的空间电场分布;采用图案化硅基底作为收集板,实验考察了微图案形状、收... 为进一步提高单根电纺丝纳米纤维的定位沉积和形貌控制水平,基于近场静电纺丝技术,研究了单根直写纳米纤维在无图案硅基底的沉积行为;仿真分析了图案化硅基底上方的空间电场分布;采用图案化硅基底作为收集板,实验考察了微图案形状、收集运动速度等因素对单根纳米纤维定位沉积的影响规律。实验结果显示,电纺直写技术具有良好的定位精度,可将直径为100~800 nm的纳米纤维精确定位于直径仅为1.6μm的圆形微图案阵列上表面;收集板运动速度较小时,受电场力影响纳米纤维沉积轨迹将朝微图案偏移7μm;收集板运动速度进一步减小时,纳米纤维在基底微图案附近或上表面产生聚集;长条形微图案对纳米纤维沉积过程具有良好的引导与约束作用。得到的结果表明,基于近场静电纺丝的直写技术可较好地实现单根纳米纤维在图案化硅基底的精确定位沉积。 展开更多
关键词 近场静电纺丝 纳米纤维 定位沉积
在线阅读 下载PDF
模板诱导有机发光小分子定位沉积 被引量:1
2
作者 林里 魏士刚 +2 位作者 李慧 郝娟媛 吕男 《高等学校化学学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2011年第10期2349-2352,共4页
通过模板诱导有机发光小分子定位沉积的方法构筑了大面积纳微米尺度的荧光图案.模板是以纳米压印技术构筑的聚合物微结构为阻挡层蒸镀金属,经Lift-off后形成的金属微结构.在模板表面,有机发光小分子与金属区域的结合能大于与裸硅片区域... 通过模板诱导有机发光小分子定位沉积的方法构筑了大面积纳微米尺度的荧光图案.模板是以纳米压印技术构筑的聚合物微结构为阻挡层蒸镀金属,经Lift-off后形成的金属微结构.在模板表面,有机发光小分子与金属区域的结合能大于与裸硅片区域的结合能,因此,选择结构合适的模板可诱导有机发光小分子定位沉积.这种快速制备大面积荧光图案的方法在提高有机光致发光器件的光抽取效率方面具有潜在的应用价值. 展开更多
关键词 有机发光小分子 定位沉积 模板 荧光图案
在线阅读 下载PDF
分子动力学模拟3(5)-(9-蒽基)吡唑分子在自组装膜上的选择性沉积 被引量:2
3
作者 张鲁格 薛泽旭 +1 位作者 张翀 延辉 《高等学校化学学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第3期505-512,共8页
采用平衡分子动力学和拉伸分子动力学模拟方法研究了模板诱导有机发光小分子3(5)-(9-蒽基)吡唑(ANP)在自组装膜上的选择性沉积,并利用伞形取样方法和加权柱状图分析法计算了沉积过程的均力势.模拟中以二氧化硅为底板分别构筑2种不同密... 采用平衡分子动力学和拉伸分子动力学模拟方法研究了模板诱导有机发光小分子3(5)-(9-蒽基)吡唑(ANP)在自组装膜上的选择性沉积,并利用伞形取样方法和加权柱状图分析法计算了沉积过程的均力势.模拟中以二氧化硅为底板分别构筑2种不同密度的烷烃链自组装膜模板,即低密度的液体扩展相和高密度的液体压缩相.平衡分子动力学结果显示,ANP分子容易沉积至低密度的液体扩展相中,难以沉积至高密度的液体压缩相中.拉伸分子动力学结果表明,当ANP分子沉积至液体压缩相表面时,在进入烷烃膜时遇到较大阻力,因而不易进入到烷烃链单层膜中;而ANP分子在进入液体扩展相的过程中受到的阻力较小.通过比较这2种不同密度自组装膜与ANP分子之间的结合自由能,发现ANP分子进入液体压缩相的能垒较高,而ANP分子与液体扩展相结合更加稳定,导致有机发光小分子在不同密度的模板上具有选择吸附性.所得模拟结果与实验现象一致,在分子水平上为实验提供了更加丰富的微观信息. 展开更多
关键词 自组装膜(SAM) 定位沉积 拉伸分子动力学 伞形取样 3(5)-(9-蒽基)吡唑 低密度的液体扩展相 高密度的液体压缩相 均力势
在线阅读 下载PDF
喷墨打印OLED发光层像素坑内成膜控制方法 被引量:1
4
作者 朱红 陈建魁 +3 位作者 岳晓 熊镜凯 熊佳聪 高国雄 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2022年第11期1420-1429,共10页
在OLED发光层喷墨打印制备中,像素坑内成膜厚度控制是抑制器件产生Mura缺陷的关键。不同喷孔液滴体积差异和液滴错误沉积引起的像素坑内融合溶液体积变化,是造成发光层膜厚不一致的主要原因。为解决膜厚一致性问题,本文提出了基于液滴... 在OLED发光层喷墨打印制备中,像素坑内成膜厚度控制是抑制器件产生Mura缺陷的关键。不同喷孔液滴体积差异和液滴错误沉积引起的像素坑内融合溶液体积变化,是造成发光层膜厚不一致的主要原因。为解决膜厚一致性问题,本文提出了基于液滴体积控制与沉积定位控制的OLED发光层成膜控制方法。首先调节驱动波形使不同喷孔产生体积适配的液滴;然后检测各喷孔的液滴落点位置,通过偏移补偿和异常喷孔筛选控制液滴精准沉积;最后使用不同液滴混合方法控制像素坑内溶液体积。在实验中,将液滴沉积定位偏差控制在±10μm,将液滴混合后溶液体积差异控制在±4%,测量干燥固化后的薄膜厚度,结果表明,不同像素坑膜厚一致性提高至95%以上,获得了发光均匀的OLED器件。本文提出的膜厚一致性控制方法达到预期、满足OLED功能层制备要求。 展开更多
关键词 喷墨打印 OLED 成膜控制 体积控制 沉积定位 膜厚一致性
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部