期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
高乙醇含量电解液体系下的宏孔硅阵列光电化学腐蚀技术研究
1
作者 宁宇 季旋 +2 位作者 周秀文 何玉丹 翁文茜 《现代化工》 北大核心 2025年第2期188-192,198,共6页
采用光电化学腐蚀单晶硅方法进行宏孔硅阵列制备技术研究,探究了高乙醇含量电解液体系下腐蚀电压对宏孔硅形貌的影响,分析了单晶硅定向溶解机理。结果表明,高乙醇电解液下,单晶硅的腐蚀主要为二价溶解过程,有别于常规电解液体系下单晶... 采用光电化学腐蚀单晶硅方法进行宏孔硅阵列制备技术研究,探究了高乙醇含量电解液体系下腐蚀电压对宏孔硅形貌的影响,分析了单晶硅定向溶解机理。结果表明,高乙醇电解液下,单晶硅的腐蚀主要为二价溶解过程,有别于常规电解液体系下单晶硅的四价溶解过程;在该体系下,单晶硅的溶解速度较快,具有较好的应用前景。在腐蚀电压为1.5 V、腐蚀时间为2 h,得到深宽比为23的宏孔硅阵列,腐蚀速度最快可达75μm/h;反应过程中有氢气产生,使腐蚀速度增大,腐蚀至115μm后,过量氢气堆积使孔尖腐蚀受抑制。 展开更多
关键词 宏孔硅阵列 光电化学腐蚀法 电解液 腐蚀机理 物质交换
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部