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量子电路中门失效错误的检测方法
被引量：
2
1
作者
肖芳英
陈汉武
李志强
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第10期2084-2089,共6页
可逆电路是量子计算科学、低能耗COMS以及纳米技术研究的基础。针对可逆电路单个门失效错误,本文给出了一种生成完备检测集的方法来检测所有可能的错误。实验结果表明,对于规模较大的电路,现有的DFT检测方法需要添加门的数量占电路中门...
可逆电路是量子计算科学、低能耗COMS以及纳米技术研究的基础。针对可逆电路单个门失效错误,本文给出了一种生成完备检测集的方法来检测所有可能的错误。实验结果表明,对于规模较大的电路,现有的DFT检测方法需要添加门的数量占电路中门数量的一半以上;利用本文算法由于不需要添加额外的门,而且得到的完备检测集是所有可能的向量中非常少的一部分。另外,对于某些实现技术,DFT检测方法应用受限,本文给出的方法具有更广泛的应用。
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关键词
量子电路
门失效模型
错误
检测
完备检测集
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职称材料
题名
量子电路中门失效错误的检测方法
被引量：
2
1
作者
肖芳英
陈汉武
李志强
机构
东南大学计算机科学与工程学院
扬州大学信息工程学院计算机科学与技术系
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第10期2084-2089,共6页
基金
国家自然科学基金(60572071)
江苏省自然科学基金(BK2007104)
江苏省高校自然科学基金(06KJB520137)资助项目
文摘
可逆电路是量子计算科学、低能耗COMS以及纳米技术研究的基础。针对可逆电路单个门失效错误,本文给出了一种生成完备检测集的方法来检测所有可能的错误。实验结果表明,对于规模较大的电路,现有的DFT检测方法需要添加门的数量占电路中门数量的一半以上;利用本文算法由于不需要添加额外的门,而且得到的完备检测集是所有可能的向量中非常少的一部分。另外,对于某些实现技术,DFT检测方法应用受限,本文给出的方法具有更广泛的应用。
关键词
量子电路
门失效模型
错误
检测
完备检测集
Keywords
quantum circuit
missing-gate fault model
fault test
complete test set
分类号
TP387 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
量子电路中门失效错误的检测方法
肖芳英
陈汉武
李志强
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
2
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