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宇航用瓷介电容器膜层厚度对可靠性影响的试验研究
1
作者
刘富品
吕素果
孙淑英
《航天制造技术》
2017年第2期39-43,共5页
瓷介电容器通过减薄介质膜层厚度可以实现小型化、大容量。针对减薄后能否满足宇航应用可靠性要求,我们开展了试验研究与验证,探索了宇航用瓷介电容器介质厚度确定的理论和试验依据,研究分析了目前材料、制造和控制水平与宇航标准要求...
瓷介电容器通过减薄介质膜层厚度可以实现小型化、大容量。针对减薄后能否满足宇航应用可靠性要求,我们开展了试验研究与验证,探索了宇航用瓷介电容器介质厚度确定的理论和试验依据,研究分析了目前材料、制造和控制水平与宇航标准要求的差异,对比了不同介质厚度产品性能和可靠性的差异,试验验证了介质厚度与产品性能及可靠性的理论模型。
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关键词
宇航用瓷介电容器
介质膜厚
可靠性设计
试验验证
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职称材料
题名
宇航用瓷介电容器膜层厚度对可靠性影响的试验研究
1
作者
刘富品
吕素果
孙淑英
机构
中国航天标准化研究所
北京元六鸿远电子有限责任公司
出处
《航天制造技术》
2017年第2期39-43,共5页
文摘
瓷介电容器通过减薄介质膜层厚度可以实现小型化、大容量。针对减薄后能否满足宇航应用可靠性要求,我们开展了试验研究与验证,探索了宇航用瓷介电容器介质厚度确定的理论和试验依据,研究分析了目前材料、制造和控制水平与宇航标准要求的差异,对比了不同介质厚度产品性能和可靠性的差异,试验验证了介质厚度与产品性能及可靠性的理论模型。
关键词
宇航用瓷介电容器
介质膜厚
可靠性设计
试验验证
Keywords
ceramic dielectric capacitor for space application： dielectric layer thickness： reliability design
experimental verification
分类号
V416 [航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程]
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作者
出处
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1
宇航用瓷介电容器膜层厚度对可靠性影响的试验研究
刘富品
吕素果
孙淑英
《航天制造技术》
2017
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