基于40nm超大规模SoC芯片存储器测试电路设计与实现 被引量：3

1

作者 陈冬明 成建兵 蔡志匡 《电子器件》 CAS 北大核心 2017年第4期813-818,共6页

针对超大规模SoC(System on Chip)芯片中存储器的测试需求,首先分析存储器测试中存在的主要问题,包括新故障模型和新算法的需求、对电路性能的影响、以及测试成本的增加等。针对上述问题,存储器测试电路设计中,综合考虑PPA(Power Perfor... 针对超大规模SoC(System on Chip)芯片中存储器的测试需求,首先分析存储器测试中存在的主要问题,包括新故障模型和新算法的需求、对电路性能的影响、以及测试成本的增加等。针对上述问题,存储器测试电路设计中,综合考虑PPA(Power Performance Area)等多个设计因素优化测试电路,包括BIST(Build-in-Self Test)电路布局、数量、时序、存储器布图规划等。最后在一款40 nm量产SoC芯片上,应用Mentor Graphics公司LV(Logic Vision)流程实现了测试电路设计,实验结果证明本方案的可行性和有效性。 展开更多

关键词 可测性设计 存储器测试 内建自测试 故障模型 测试算法

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基于March C-算法的单片机存储器测试 被引量：4

2

作者 于文考 高成 张栋 《现代电子技术》 2010年第6期19-21,33,共4页

为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。根据MCS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题,首次提出将March C-算法用于单片机内嵌存储器的用户级测... 为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。根据MCS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题,首次提出将March C-算法用于单片机内嵌存储器的用户级测试程序编写。该测试程序对SAF,TF,AF,CF的故障覆盖率可达到100%,并且能够检测部分NPSF故障,具有较高的故障覆盖率,适合于对用户级MCS-51系列单片机存储器的测试。 展开更多

关键词 单片机 MARCH C-算法 存储器测试 故障覆盖率

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基于V93000 MTP的存储器测试 被引量：1

3

作者 陈鄞琛 贺云 《电子产品可靠性与环境试验》 2022年第S01期80-84,共5页

随着存储器的不断发展,实现存储器全地址多功能测试所需要的向量深度也迅速地变大,有些甚至已经超出了测试系统本身存储容量的限制,因此,如何压缩测试向量变得至关重要。与基于硬件APG的传统存储器测试方法相比,MTP软件包作为V93000系... 随着存储器的不断发展,实现存储器全地址多功能测试所需要的向量深度也迅速地变大,有些甚至已经超出了测试系统本身存储容量的限制,因此,如何压缩测试向量变得至关重要。与基于硬件APG的传统存储器测试方法相比,MTP软件包作为V93000系统推出的内存测试解决方案,具备设置灵活、占内存小、实现方便、可与传统的测试向量共同使用等特点。首先,着重地分析了MTP的特点;然后,详细地介绍了MTL文件的构成;最后,以DDR3器件的测试为例,阐述了存储器测试过程中利用MTP生成测试向量的方法,从而高效、简便地完成了存储器的测试评价。 展开更多

关键词 存储器测试 测试向量 测试软件 测试语言

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基于V93000系统的高速QDR SRAM存储器测试方法 被引量：3

4

作者 王征宇 马锡春 《电子质量》 2019年第12期12-17,共6页

为满足当今的高速网络中高带宽、高密度存储器要求,四倍数据速率静态随机存取存储器(QDR SRAM)广泛应用于路由器、交换机、集成器、网络卡等互联网设备中。QDR SRAM在双倍数据速率存储器(DDR)的基础上,具有独立的数据输入端口和数据输... 为满足当今的高速网络中高带宽、高密度存储器要求,四倍数据速率静态随机存取存储器(QDR SRAM)广泛应用于路由器、交换机、集成器、网络卡等互联网设备中。QDR SRAM在双倍数据速率存储器(DDR)的基础上,具有独立的数据输入端口和数据输出端口,在脉冲信号的上升沿和下降沿都可以处理数据资料,读写控制、读写地址分离,与DDR相比操作起来更简便。但同时QDR因其数据传输速率高、存储容量较大,使得如何对其性能进行精确评价成为存储器类器件测试的一个亟待解决的难题。文中以GSI公司的GS81302D37GE-300I型芯片为例,介绍了一种基于爱德万公司V93000测试系统进行高速QDR SRAM电路测试的方法,依托V93000测试系统的可编程阻抗匹配特性及存储器专用测试软件包等对其性能进行高效、准确地评价,以满足高速QDR SRAM各项指标的评估要求。 展开更多

关键词 四倍数据速率静态随机存取存储器 附加存储器测试 测试向量

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Innoventions推出RAHCHECK Plus存储器测试仪

5

《电子质量》 2003年第4期40-40,共1页

关键词 Innoventions公司 RAHCHECKPlus存储器测试仪 DDR模块 适配器

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嵌入式存储器测试

6

作者 Goh Swee Heng Toh Ser Chye Wong Kok Sun 《集成电路应用》 2008年第9期46-48,共3页

随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT(可测性设计)测试技术,... 随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT(可测性设计)测试技术,如SCAN〔扫描〕、MBIST(存储器内建自测试)以及BISR(内建自修复)。 展开更多

关键词 嵌入式存储器 器件测试 存储器内建自测试 SOC系统 可测性设计 MBIST 制造技术 测试技术

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基于模块复用的存储器内建自测试电路优化

7

作者 张晓旭 山丹 《中国集成电路》 2025年第4期69-73,共5页

针对传统的存储器内建自测试电路中存在的额外电路资源消耗过大的问题,本研究提出了一种基于模块复用的存储器内建自测试电路优化方法。该方法通过控制器模块的复用,实现了多个被测存储器模块对控制器资源的高效共享,从而在保证测试效... 针对传统的存储器内建自测试电路中存在的额外电路资源消耗过大的问题,本研究提出了一种基于模块复用的存储器内建自测试电路优化方法。该方法通过控制器模块的复用,实现了多个被测存储器模块对控制器资源的高效共享,从而在保证测试效率的同时显著降低了硬件资源需求。实验结果表明,相比传统的存储器内建自测试电路,本文提出的优化电路在保证测试质量的同时,节省的硬件资源与存储器数量成正比。本研究不仅为存储器内建自测试技术提供了一种新的优化思路,也为未来存储器测试技术的发展提供了有力支持。 展开更多

关键词 存储器内建自测试 模块复用 故障检测 MARCH算法

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基于共享总线结构的存储器内建自测试电路

8

作者 雷鹏 纪元法 +1 位作者 肖有军 李尤鹏 《半导体技术》 北大核心 2024年第2期158-163,200,共7页

随着片上系统处理的数据增多,数据存储器测试逻辑相应增加,在保证测试功能的同时减小测试电路面积是当下急需解决的问题。基于共享总线结构的存储器内建自测试(MBIST)电路,通过将多个存储器引脚信号进行复用的方式,对存储器进行层次化设... 随着片上系统处理的数据增多,数据存储器测试逻辑相应增加,在保证测试功能的同时减小测试电路面积是当下急需解决的问题。基于共享总线结构的存储器内建自测试(MBIST)电路,通过将多个存储器引脚信号进行复用的方式,对存储器进行层次化设计,将物理存储器拼接组成逻辑存储器模块,再整合多个逻辑存储器成为一个大的存储器集模块,MBIST控制器针对存储器集进行MBIST,从而减少测试逻辑数量以达到减小测试电路占用面积的目的。通过实验证明,该结构可以满足MBIST相关需求,相较于针对单颗存储器测试的传统MBIST电路面积减小了21.44%。该方案具有良好的实用性,可以为相关存储器测试设计提供参考。 展开更多

关键词 共享总线结构 存储器内建自测试(MBIST) 逻辑存储器 测试电路面积 层次化设计

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针对存储器单粒子效应的测试系统设计 被引量：1

9

作者 王雷 蒋见花 +1 位作者 谢朝辉 周玉梅 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2013年第12期1519-1522,1436,共5页

根据新形势下存储器单粒子试验的特点,基于FPGA和虚拟仪器相结合的方式设计了一款针对存储器单粒子效应的测试系统。该系统改进了传统测试系统中试验数据的回传方式,能够较好地监测和应对单粒子闩锁(SEL)效应,并能够将单粒子瞬态效应(S... 根据新形势下存储器单粒子试验的特点,基于FPGA和虚拟仪器相结合的方式设计了一款针对存储器单粒子效应的测试系统。该系统改进了传统测试系统中试验数据的回传方式,能够较好地监测和应对单粒子闩锁(SEL)效应,并能够将单粒子瞬态效应(SET)和单粒子翻转(SEU)区分出来。该测试系统还可以根据存储器的不同进行灵活地配置,并经过实际的单粒子效应测试验证了本系统的可靠性。 展开更多

关键词 单粒子效应 存储器测试 虚拟仪器

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嵌入式存储器内建自测试的原理及实现 被引量：15

10

作者 陆思安 何乐年 +1 位作者 沈海斌 严晓浪 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2004年第2期205-208,共4页

随着集成电路设计规模的不断增大 ,在芯片中特别是在系统芯片 SOC( system on a chip)中嵌入大量存储器的设计方法正变得越来越重要。文中详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实现原理 ,并给出了存储器内建自测试的一种典型实现。

关键词 嵌入式存储器 存储器内建自测试 MARCH算法

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一款雷达信号处理SOC芯片的存储器内建自测试设计 被引量：5

11

作者 饶全林 何春 +1 位作者 饶青 刘辉华 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2008年第7期95-99,共5页

内建自测试(BIST)为嵌入式存储器提供了一种有效的测试方法.详细介绍了存储器故障类型及内建自测试常用的March算法和ROM算法.在一款雷达信号处理SOC芯片中BIST被采用作为芯片内嵌RAM和ROM的可测试性设计的解决方案.利用BIST原理成功地... 内建自测试(BIST)为嵌入式存储器提供了一种有效的测试方法.详细介绍了存储器故障类型及内建自测试常用的March算法和ROM算法.在一款雷达信号处理SOC芯片中BIST被采用作为芯片内嵌RAM和ROM的可测试性设计的解决方案.利用BIST原理成功地为芯片内部5块RAM和2块ROM设计了自测试电路,并在芯片的实际测试过程中成功完成对存储器的测试并证明内嵌存储器不存在故障. 展开更多

关键词 存储器内建自测试 故障模型 MARCH算法 ROM算法 可测试性设计

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一种基于存储器内建自测试的新型动态March算法设计 被引量：4

12

作者 蔡志匡 余昊杰 +2 位作者 杨航 王子轩 郭宇锋 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2023年第9期3420-3429,共10页

存储器作为片上系统(SoC)中最大和最重要的模块之一,它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率,该文提出一种新型动态March算法——Dynamic-RAWC。相比经典的March RAW算法,Dynamic-RAWC算法有着更良好... 存储器作为片上系统(SoC)中最大和最重要的模块之一,它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率,该文提出一种新型动态March算法——Dynamic-RAWC。相比经典的March RAW算法,Dynamic-RAWC算法有着更良好的故障检测效果:动态故障覆盖率提高了31.3%。这个可观的效果得益于所提算法以经典的March RAW算法为基础进行优化,融入了Hammer,March C+算法的测试元素和一些新的测试元素。不同于普通March型算法的固定元素,所提算法支持用户自定义算法的执行顺序以适应不同的故障检测需求,能够动态地控制算法元素,在时间复杂度和故障覆盖率之间进行调整从而达到良好的平衡。 展开更多

关键词 存储器内建自测试 MARCH算法 动态故障 故障覆盖率

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STT-MRAM存储器数据保持试验方法研究 被引量：1

13

作者 杨霄垒 申浩 《电子与封装》 2024年第7期80-84,共5页

自旋转移力矩磁随机存储器(STT-MRAM)的基本存储单元结构为磁性隧道结(MTJ),该单元的热稳定性会随着温度的升高而变弱。MTJ这一特性导致传统激活能计算模型无法直接应用于STT-MRAM的高温数据保持特性测试,因此研究STT-MRAM的数据保持特... 自旋转移力矩磁随机存储器(STT-MRAM)的基本存储单元结构为磁性隧道结(MTJ),该单元的热稳定性会随着温度的升高而变弱。MTJ这一特性导致传统激活能计算模型无法直接应用于STT-MRAM的高温数据保持特性测试,因此研究STT-MRAM的数据保持特性需探究可替代其激活能的参数。为此,搭建了基于Xilinx Kintex-7系列FPGA的测试系统,进行了多个温度数据保持试验,最终拟合出一个代替激活能来衡量STT-MRAM数据保持能力的参数,即热稳定因子。该多温度数据拟合热稳定因子的方法可有效评估STT-MRAM器件数据保持能力。 展开更多

关键词 自旋转移力矩磁随机存储器 磁性隧道结 数据保持 存储器测试

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STT-MRAM存储器的故障测试设计

14

作者 杨真 胡伟 王文 《微电子学与计算机》 2023年第5期112-117,共6页

自旋转移矩的随机存储器(Spin Transfer Torque Magnetic Random Access Memory,STT-MRAM)以其非易失性、读写速度快、数据保持时间长、完全兼容CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)工艺等优势在新型存储器中脱颖而出.随着... 自旋转移矩的随机存储器(Spin Transfer Torque Magnetic Random Access Memory,STT-MRAM)以其非易失性、读写速度快、数据保持时间长、完全兼容CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)工艺等优势在新型存储器中脱颖而出.随着其产业化的投入暴增和应用规模的扩大,STT-MRAM存储器产品的质量和可靠性测试十分必要.当前,最常用的March测试算法在对STT-MRAM的性能进行验证时,存在测试复杂度与故障覆盖率两者不匹配的难题.针对于此,从STT-MRAM的制造缺陷形成和分类出发,将部分针孔故障的表现形式,采用March敏化的方式检测,并基于此类故障类型,提出了一种高故障覆盖率的March CM测试算法,根据此算法设计相应的内建自测试(Build-In Self-Testing,BIST)电路.仿真验证及对STT-MRAM的板级测试显示这一设计达到了兼容高复杂度和高覆盖率的测试要求. 展开更多

关键词 STT-MRAM MARCH算法 内建自测试 新型存储器 存储器测试

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基于存储器内建自测试的全速测试设计 被引量：3

15

作者 张立博 唐威 +1 位作者 颜伟 李俊玲 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2018年第11期43-46,共4页

存储器内建自测试(memory built-in-self-test,MBIST)已成为可测性设计(design-for-testability,DFT)中用以测试嵌入式存储器的重要方法.在一款以太网芯片中基于传统存储器内建自测试,提出了一种多级流水寄存器的全速测试结构,减少了测... 存储器内建自测试(memory built-in-self-test,MBIST)已成为可测性设计(design-for-testability,DFT)中用以测试嵌入式存储器的重要方法.在一款以太网芯片中基于传统存储器内建自测试,提出了一种多级流水寄存器的全速测试结构,减少了测试时的读写时钟周期,缩短了测试时间,降低了测试成本.经过仿真验证,证明了该流水结构设计能够有效提高内建自测试效率. 展开更多

关键词 存储器内建自测试 流水寄存器 全速测试

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层次化设计方法在存储器内建自测试上的应用

16

作者 孙大成 《中国集成电路》 2023年第4期21-24,共4页

本文简单介绍存储器内建自测试设计技术原理,针对具体的RTL实例,对自顶向下设计方法和层次化设计方法进行了比较。实例结果表明:层次化的设计方法在大型芯片的存储器内建自测试设计中,可以加速设计,减少设计迭代时间,大幅提高工作效率。

关键词 层次化设计 存储器内建自测试

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嵌入式存储器内建自测试时间的优化 被引量：1

17

作者 王长弘 万培元 林平分 《中国集成电路》 2013年第6期31-34,共4页

存储器测试是集成电路测试的重要部分。随着集成电路存储器件向着高集成度发展,存储器测试成本在集成电路总测试成本中所占比例急剧增高。通过减少存储器测试时间来减小存储器测试成本,是一种高效的降低芯片测试成本的方法。本文以一款... 存储器测试是集成电路测试的重要部分。随着集成电路存储器件向着高集成度发展,存储器测试成本在集成电路总测试成本中所占比例急剧增高。通过减少存储器测试时间来减小存储器测试成本,是一种高效的降低芯片测试成本的方法。本文以一款单周期同步存储器为例,选取读写时序为对象,详细分析了存储器内建自测试方法,给出了一种通过优化存储器内建自测试逻辑时序来减小存储器测试时间的设计实现方法。 展开更多

关键词 存储器内建自测试 时钟 读写时序 建模

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存储器故障诊断算法的研究与实现 被引量：6

18

作者 刘炎华 景为平 《电子与封装》 2006年第12期23-25,48,共4页

集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。文中从存储器的故障模型入手,着重描述了存储器常见的诊断算法。诊断算法和诊断策略要在诊断时间、故障覆盖率、面积开支之间进行权衡。因此要根据存储器的故障类型和测试需求来选... 集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。文中从存储器的故障模型入手,着重描述了存储器常见的诊断算法。诊断算法和诊断策略要在诊断时间、故障覆盖率、面积开支之间进行权衡。因此要根据存储器的故障类型和测试需求来选择合适的诊断算法,才能达到比较满意的效果。 展开更多

关键词 存储器测试 故障模型 诊断算法 故障覆盖率

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一种节约面积的可编程存储器内建自测试设计方法

19

作者 林重甫 陈宏铭 熊凯 《中国集成电路》 2011年第6期48-52,79,共6页

随着深亚微米技术不断的发展,在SoC设计中存储器需求越来越大,芯片的量产需要有效率而又具有相对的低成本的测试方法。可编程存储器内建自测试方法基于客制化的控制器,提供了一定程度可靠的弹性以及所需合理的硬件成本。我们在本文提出... 随着深亚微米技术不断的发展,在SoC设计中存储器需求越来越大,芯片的量产需要有效率而又具有相对的低成本的测试方法。可编程存储器内建自测试方法基于客制化的控制器,提供了一定程度可靠的弹性以及所需合理的硬件成本。我们在本文提出了一个P-MBIST设计的硬件分享架构,经由分享共用的地址产生器与控制器,P-MBIST电路的面积开销能够大幅减小,利用加入的两级流水线能够达到更高的测试速度。最后,所提出的P-MBIST电路能够由使用者自定义的配置文档而自动生成。 展开更多

关键词 存储器内建自测试 SOC

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嵌入式存储器MBIST设计中内建自诊断功能研究 被引量：3

20

作者 王晓琴 黑勇 +1 位作者 吴斌 乔树山 《电子器件》 EI CAS 2005年第4期893-896,共4页

针对大规模嵌入式存储器可测性设计技术——存储器内建自测试(MBIST)中的故障诊断问题,介绍了MBIST设计的扩展功能——存储器内建自诊断(MBISD)。在引入存储器内建自测试的基础上,详细分析了存储器内建自诊断模块根据输出故障信息自动... 针对大规模嵌入式存储器可测性设计技术——存储器内建自测试(MBIST)中的故障诊断问题,介绍了MBIST设计的扩展功能——存储器内建自诊断(MBISD)。在引入存储器内建自测试的基础上,详细分析了存储器内建自诊断模块根据输出故障信息自动分析器件失效原因、并对失效单元进行故障定位和识别的基本原理及其中的关键算法,并用一块SRAM的MBIST设计(采用Mentor公司的MBISTArchitect完成)中的MBISD具体实例进行了仿真验证。存储器内建自诊断的应用,大大提高了存储器的成品率。 展开更多

关键词 嵌入式存储器 存储器内建自测试 存储器内建自诊断

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