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一种具备长期失效短路能力的弹性压接型IGBT器件
1
作者
童颜
刘克明
+3 位作者
莫申扬
骆健
周国华
邓二平
《半导体技术》
CAS
北大核心
2024年第12期1090-1096,共7页
压接型IGBT器件的失效短路模式(SCFM)可使其在失效之后仍能保持短路特性,在大规模器件串联应用中具有非常独特的优势,能够显著提高基于电压源换流器的高压直流(VSC-HVDC)(柔性直流)输电领域电力电子设备的可靠性。弹性压接器件由于封装...
压接型IGBT器件的失效短路模式(SCFM)可使其在失效之后仍能保持短路特性,在大规模器件串联应用中具有非常独特的优势,能够显著提高基于电压源换流器的高压直流(VSC-HVDC)(柔性直流)输电领域电力电子设备的可靠性。弹性压接器件由于封装结构限制,很难实现长期稳定运行。提出了一种新型弹性压接封装结构,采用失效短路电流再分配的方案,通过理论分析、仿真对比、试验测试等手段对该方案进行失效短路能力评估,相较传统结构导电片在1900 A、1 min熔断,优化后的导电片在2250 A、2 h下能够稳定保持最高温度≤200℃,为压接器件的开发提供了新的研究方向。
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关键词
压接型IGBT器件
弹性压接
失效
短路
模式
(
scfm
)
电流再分配
长期稳定运行
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职称材料
车用锂电池PP隔膜机械失效导致内部微短路的机理研究
被引量:
4
2
作者
李志杰
陈吉清
+1 位作者
兰凤崇
杨威
《汽车工程》
EI
CSCD
北大核心
2020年第4期454-461,483,共9页
车用锂电池在工作过程中会经受机电热的耦合作用,其中机械滥用是引发锂电池内部短路的最主要风险之一,很可能导致严重的起火事故。隔膜的机械完整性是防止锂电池在机械滥用条件下发生内部短路的关键因素。通过综合的力学测试发现,不同...
车用锂电池在工作过程中会经受机电热的耦合作用,其中机械滥用是引发锂电池内部短路的最主要风险之一,很可能导致严重的起火事故。隔膜的机械完整性是防止锂电池在机械滥用条件下发生内部短路的关键因素。通过综合的力学测试发现,不同尺寸的压头导致PP隔膜两种截然不同的变形和失效模式。最后分析了触发锂电池内部微短路的机理,并通过力学试验和理论分析提出了锂电池内部微短路下的隔膜临界位移准则。
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关键词
锂电池
机械滥用
隔膜
失效
模式
内部微
短路
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职称材料
VRLA电池枝晶短路的分析
被引量:
2
3
作者
严军华
朱江川
李伟善
《电池》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第1期45-46,共2页
为了解阀控式铅酸(VRLA)电池在使用过程中发生枝晶短路的原因及机理,采用两种电池进行小电流深度过放电实验,并用扫描电子显微镜观察了电池隔板的形貌。结果表明:隔板较薄的电池容易产生枝晶短路。对VRLA电池枝晶短路产生的原因进行了...
为了解阀控式铅酸(VRLA)电池在使用过程中发生枝晶短路的原因及机理,采用两种电池进行小电流深度过放电实验,并用扫描电子显微镜观察了电池隔板的形貌。结果表明:隔板较薄的电池容易产生枝晶短路。对VRLA电池枝晶短路产生的原因进行了分析。
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关键词
阀控式铅酸蓄电池
失效
模式
深度放电
枝晶
短路
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职称材料
金属电迁移测试过程中的电介质击穿效应
4
作者
于赫薇
尹彬锋
+1 位作者
周柯
钱燕妮
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2015年第4期314-318,共5页
金属互连电迁移有断路失效和短路失效两种常规失效模式,其中短路失效是由于发生了析出效应。目前对电迁移断路失效的研究较多,但是对于析出效应(短路失效)的研究较少。研究发现在金属电迁移析出效应监测过程中易产生两种电介质击穿效...
金属互连电迁移有断路失效和短路失效两种常规失效模式,其中短路失效是由于发生了析出效应。目前对电迁移断路失效的研究较多,但是对于析出效应(短路失效)的研究较少。研究发现在金属电迁移析出效应监测过程中易产生两种电介质击穿效应,分别为在实验刚开始发生的瞬时电介质击穿(TZDB)效应和测试过程中产生的时间依赖性电介质击穿(TDDB)效应。此外,电介质层材料的介电常数值越高,其耐电介质击穿的能力越高。析出效应的监测电场强度的设定值应该同时考虑电介质层材料与测试结构的特性,监测电场强度的设定范围建议为0.15~0.24 MV/cm,以防止在析出效应监测过程中发生电介质击穿,混淆两种不同的失效机理,造成误判。
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关键词
金属电迁移
短路
失效
模式
析出效应
时间依赖性电介质击穿(TDDB)效应
瞬时电介质击穿
(
TZDB)
效应
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职称材料
题名
一种具备长期失效短路能力的弹性压接型IGBT器件
1
作者
童颜
刘克明
莫申扬
骆健
周国华
邓二平
机构
南瑞集团(国网电力科学研究院)有限公司
南京南瑞半导体有限公司
国网浙江省电力有限公司杭州市萧山区供电公司
电能高效高质转化全国重点实验室(合肥工业大学)
出处
《半导体技术》
CAS
北大核心
2024年第12期1090-1096,共7页
基金
国家电网有限公司总部管理科技项目(5108-202218280A-2-110-XG)。
文摘
压接型IGBT器件的失效短路模式(SCFM)可使其在失效之后仍能保持短路特性,在大规模器件串联应用中具有非常独特的优势,能够显著提高基于电压源换流器的高压直流(VSC-HVDC)(柔性直流)输电领域电力电子设备的可靠性。弹性压接器件由于封装结构限制,很难实现长期稳定运行。提出了一种新型弹性压接封装结构,采用失效短路电流再分配的方案,通过理论分析、仿真对比、试验测试等手段对该方案进行失效短路能力评估,相较传统结构导电片在1900 A、1 min熔断,优化后的导电片在2250 A、2 h下能够稳定保持最高温度≤200℃,为压接器件的开发提供了新的研究方向。
关键词
压接型IGBT器件
弹性压接
失效
短路
模式
(
scfm
)
电流再分配
长期稳定运行
Keywords
press-pack IGBT device
elastic press-pack
short circuit failure mode(
scfm
)
current redistribution
long-term stable operation
分类号
TN386.2 [电子电信—物理电子学]
TN305.94 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
车用锂电池PP隔膜机械失效导致内部微短路的机理研究
被引量:
4
2
作者
李志杰
陈吉清
兰凤崇
杨威
机构
华南理工大学机械与汽车工程学院
出处
《汽车工程》
EI
CSCD
北大核心
2020年第4期454-461,483,共9页
基金
国家重点研发计划(2018YFB0104100)资助。
文摘
车用锂电池在工作过程中会经受机电热的耦合作用,其中机械滥用是引发锂电池内部短路的最主要风险之一,很可能导致严重的起火事故。隔膜的机械完整性是防止锂电池在机械滥用条件下发生内部短路的关键因素。通过综合的力学测试发现,不同尺寸的压头导致PP隔膜两种截然不同的变形和失效模式。最后分析了触发锂电池内部微短路的机理,并通过力学试验和理论分析提出了锂电池内部微短路下的隔膜临界位移准则。
关键词
锂电池
机械滥用
隔膜
失效
模式
内部微
短路
Keywords
li-ion battery
mechanical abuse
separator
failure modes
internal micro-short circuit
分类号
TM9 [电气工程—电力电子与电力传动]
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职称材料
题名
VRLA电池枝晶短路的分析
被引量:
2
3
作者
严军华
朱江川
李伟善
机构
华南师范大学化学系
美美电池有限公司
出处
《电池》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第1期45-46,共2页
基金
广东省自然科学基金资助项目(031533)
文摘
为了解阀控式铅酸(VRLA)电池在使用过程中发生枝晶短路的原因及机理,采用两种电池进行小电流深度过放电实验,并用扫描电子显微镜观察了电池隔板的形貌。结果表明:隔板较薄的电池容易产生枝晶短路。对VRLA电池枝晶短路产生的原因进行了分析。
关键词
阀控式铅酸蓄电池
失效
模式
深度放电
枝晶
短路
Keywords
VRLA battery
failure mode
deep discharge
dendrite short circuit
分类号
TM912.1 [电气工程—电力电子与电力传动]
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职称材料
题名
金属电迁移测试过程中的电介质击穿效应
4
作者
于赫薇
尹彬锋
周柯
钱燕妮
机构
上海华力微电子有限公司
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2015年第4期314-318,共5页
文摘
金属互连电迁移有断路失效和短路失效两种常规失效模式,其中短路失效是由于发生了析出效应。目前对电迁移断路失效的研究较多,但是对于析出效应(短路失效)的研究较少。研究发现在金属电迁移析出效应监测过程中易产生两种电介质击穿效应,分别为在实验刚开始发生的瞬时电介质击穿(TZDB)效应和测试过程中产生的时间依赖性电介质击穿(TDDB)效应。此外,电介质层材料的介电常数值越高,其耐电介质击穿的能力越高。析出效应的监测电场强度的设定值应该同时考虑电介质层材料与测试结构的特性,监测电场强度的设定范围建议为0.15~0.24 MV/cm,以防止在析出效应监测过程中发生电介质击穿,混淆两种不同的失效机理,造成误判。
关键词
金属电迁移
短路
失效
模式
析出效应
时间依赖性电介质击穿(TDDB)效应
瞬时电介质击穿
(
TZDB)
效应
Keywords
metal electromigration
short circuit failure model
extrusion effect
time dependent dielectric breakdown(TDDB) effect
time-zero dielectric breakdown(TZDB) effect
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN304 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种具备长期失效短路能力的弹性压接型IGBT器件
童颜
刘克明
莫申扬
骆健
周国华
邓二平
《半导体技术》
CAS
北大核心
2024
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
车用锂电池PP隔膜机械失效导致内部微短路的机理研究
李志杰
陈吉清
兰凤崇
杨威
《汽车工程》
EI
CSCD
北大核心
2020
4
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
VRLA电池枝晶短路的分析
严军华
朱江川
李伟善
《电池》
CAS
CSCD
北大核心
2005
2
在线阅读
下载PDF
职称材料
4
金属电迁移测试过程中的电介质击穿效应
于赫薇
尹彬锋
周柯
钱燕妮
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2015
0
在线阅读
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职称材料
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