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题名一种测量天线罩微波电厚度的简便方法
被引量：6
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作者
韦高
许家栋
温浩
李建周
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机构
西北工业大学电子信息学院
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出处
《微波学报》
CSCD
北大核心
2005年第4期51-53,66,共4页
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文摘
提出了一种天线罩电厚度检测的新方法-微波反射式电厚度测量,给出了该方法的基本原理以及相应的测量系统。与通常天线罩壁电厚度的双探头插入相移测量方法相比,采用单探头测量天线罩壁复反射系数,通过复反射系数相位的变化了解天线罩壁电厚度的相对变化,大大简化了设备,降低了测量时对探头机械定位精度的要求,使测量过程简单易行。由于采用单探头,该方法还可测量双探头无法测量的复杂天线罩顶部位。
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关键词
微波测量
天线罩电厚度检测
微波多端口反射计
厚度测量
天线罩
简便方法
微波
复反射系数
双探头
厚度检测
测量系统
测量方法
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Keywords
Microwave measurement, Electrical thickness measurement of radom, Microwave reflectometer
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分类号
TN820
[电子电信—信息与通信工程]
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