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基于双弹光的椭偏参量稳定测量系统设计
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作者 郭浩杰 张瑞 +3 位作者 薛鹏 徐承雨 吕健宁 王志斌 《应用光学》 北大核心 2025年第2期372-379,共8页
针对高精度、高重复性、快速实时的椭偏测量需求,研究了一种基于双弹光椭偏参量的稳定测量技术。对弹光调制型椭偏参量测量系统进行原理介绍,设计了一种椭偏参量稳定测量系统。利用多速率处理方法(即降采样方法),在减少现场可编程门阵列... 针对高精度、高重复性、快速实时的椭偏测量需求,研究了一种基于双弹光椭偏参量的稳定测量技术。对弹光调制型椭偏参量测量系统进行原理介绍,设计了一种椭偏参量稳定测量系统。利用多速率处理方法(即降采样方法),在减少现场可编程门阵列(FPGA)硬件资源使用的同时,能够达到窄带低通滤波的效果。对降采样中使用的CIC滤波器与FIR滤波器进行设计,采用数字锁相技术对双弹光调制光载波信号进行解调,获得椭偏参量的初始信息。随后设计了实验系统,并对已标定的Si基SiO_(2)标准样品进行2000次的测量验证。实验结果表明,将采样时间设置为20 ms时,椭偏参量幅值比和相位差的重复性精度均优于0.001°,测量样品的薄膜厚度重复性精度为0.001 nm,验证了该设计具有较好的测量重复性和较高的测量精度。 展开更多
关键词 弹光调制 椭偏技术 多速率处理技术 锁相放大
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