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多端口反射计的任意相位单位矢量五点校准法及误差分析 被引量:7
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作者 田步宁 唐家明 +1 位作者 杨德顺 刘其中 《微波学报》 CSCD 北大核心 2000年第4期366-372,共7页
本文讨论用五个任意相位的单位矢量来校准多端口反射计的方法。该方法使用简便 ,且适用于扫频测试。对于各类多端口反射计的校准、测量和误差分析 ,均是一种十分有效的方法。另外 ,本文利用该方法完成了对多端口反射计的误差分析 ,得到... 本文讨论用五个任意相位的单位矢量来校准多端口反射计的方法。该方法使用简便 ,且适用于扫频测试。对于各类多端口反射计的校准、测量和误差分析 ,均是一种十分有效的方法。另外 ,本文利用该方法完成了对多端口反射计的误差分析 ,得到定量分析结果。 展开更多
关键词 多端口反射计方程 矢量变换分离法 误差分析
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多端口反射计的任意相位单位矢量五点校准法的改进 被引量:3
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作者 田步宁 杨德顺 +1 位作者 唐家明 刘其中 《微波学报》 CSCD 北大核心 2001年第2期98-100,共3页
本文对多端口反射计的任意相位单位矢量五点校准法作了改进。根据多端口反射计响应方程的对称性 ,本文提出用同一求解过程确定两个系统复常数。对四态四端口反射计进行的校准表明 ,改进后的方法与改进前的方法计算结果完全一致 ,但改进... 本文对多端口反射计的任意相位单位矢量五点校准法作了改进。根据多端口反射计响应方程的对称性 ,本文提出用同一求解过程确定两个系统复常数。对四态四端口反射计进行的校准表明 ,改进后的方法与改进前的方法计算结果完全一致 ,但改进后的方法程序编制更简单、实现更容易。 展开更多
关键词 多端口反射计 五点校准法 对称性 相位单位矢量
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全面最小二乘法在多端口反射计校准技术中的应用 被引量:3
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作者 马国田 杨德顺 梁昌洪 《西安电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第2期177-180,共4页
文中应用全面最小二乘法(TLS)于多端口反射计的校准中,并与传统的最小二乘法(LS)进行了比较.实验结果表明,全面最小二乘法的精确度优于传统最小二乘法.
关键词 全面最小二乘法 多端口反射计 微波测量
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一种测量天线罩微波电厚度的简便方法 被引量:6
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作者 韦高 许家栋 +1 位作者 温浩 李建周 《微波学报》 CSCD 北大核心 2005年第4期51-53,66,共4页
提出了一种天线罩电厚度检测的新方法-微波反射式电厚度测量,给出了该方法的基本原理以及相应的测量系统。与通常天线罩壁电厚度的双探头插入相移测量方法相比,采用单探头测量天线罩壁复反射系数,通过复反射系数相位的变化了解天线罩壁... 提出了一种天线罩电厚度检测的新方法-微波反射式电厚度测量,给出了该方法的基本原理以及相应的测量系统。与通常天线罩壁电厚度的双探头插入相移测量方法相比,采用单探头测量天线罩壁复反射系数,通过复反射系数相位的变化了解天线罩壁电厚度的相对变化,大大简化了设备,降低了测量时对探头机械定位精度的要求,使测量过程简单易行。由于采用单探头,该方法还可测量双探头无法测量的复杂天线罩顶部位。 展开更多
关键词 微波测量 天线罩电厚度检测 微波多端口反射计 厚度测量 天线罩 简便方法 微波 反射系数 双探头 厚度检测 测量系统 测量方法
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纳米金属薄膜材料电磁参数测量方法
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作者 韦高 许家栋 +1 位作者 温浩 李建周 《微波学报》 CSCD 北大核心 2005年第6期39-42,共4页
提出了一种基于波导法的纳米薄膜材料电磁参数测量的新方法,给出了该方法的基本原理。与常规波导测量方法相比,该方法根据纳米金属薄膜材料的特点,简化了求解算法,只需测出加载薄膜波导开路与短路时的复反射系数,即可求出薄膜的介电常... 提出了一种基于波导法的纳米薄膜材料电磁参数测量的新方法,给出了该方法的基本原理。与常规波导测量方法相比,该方法根据纳米金属薄膜材料的特点,简化了求解算法,只需测出加载薄膜波导开路与短路时的复反射系数,即可求出薄膜的介电常数与导磁率,使测量过程简单高效并具有较高的精度。 展开更多
关键词 微波测量 纳米金属薄膜电磁参数测量 微波多端口反射计
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