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基于逻辑函数的电路可测性设计及多故障测试
被引量：
2
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作者
潘中良
《应用科学学报》
CAS
CSCD
2002年第2期111-115,共5页
逻辑函数可以根据需要被表示成多种不同的形式 ,其中的 ESOP形式所需积项较少且具有一般性 .针对数字电路的多故障 ,基于逻辑函数的 ESOP形式 ,采用与门阵列和异或门树来进行电路的可测性设计 ,提出了在这种电路结构下的多故障测试方法 ...
逻辑函数可以根据需要被表示成多种不同的形式 ,其中的 ESOP形式所需积项较少且具有一般性 .针对数字电路的多故障 ,基于逻辑函数的 ESOP形式 ,采用与门阵列和异或门树来进行电路的可测性设计 ,提出了在这种电路结构下的多故障测试方法 ,给出了检测电路中多故障的通用测试集 .该测试集可从电路结构图直观求得 ,无需进行复杂处理 ,从而使测试生成变得简单快捷 .
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关键词
多故障测试
逻辑函数
可测性设计
数字电路
测试
集
ESOP形式
XOR树
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职称材料
题名
基于逻辑函数的电路可测性设计及多故障测试
被引量：
2
1
作者
潘中良
机构
华南师范大学物理系
出处
《应用科学学报》
CAS
CSCD
2002年第2期111-115,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目 (60 0 0 60 0 2
文摘
逻辑函数可以根据需要被表示成多种不同的形式 ,其中的 ESOP形式所需积项较少且具有一般性 .针对数字电路的多故障 ,基于逻辑函数的 ESOP形式 ,采用与门阵列和异或门树来进行电路的可测性设计 ,提出了在这种电路结构下的多故障测试方法 ,给出了检测电路中多故障的通用测试集 .该测试集可从电路结构图直观求得 ,无需进行复杂处理 ,从而使测试生成变得简单快捷 .
关键词
多故障测试
逻辑函数
可测性设计
数字电路
测试
集
ESOP形式
XOR树
Keywords
logic functions
testable design
digital circuits
multiple faults
分类号
TN791 [电子电信—电路与系统]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于逻辑函数的电路可测性设计及多故障测试
潘中良
《应用科学学报》
CAS
CSCD
2002
2
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