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低温烧结多层片式ZnO压敏电阻内电极Ag扩散对电性能的影响
被引量：
4
1
作者
钟明峰
苏达根
+1 位作者
庄严
陈志雄
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第6期1373-1378,共6页
研究了低温烧结多层片式ZnO压敏电阻的Pd-Ag内电极中Ag扩散对电性能的影响.发现当含Ag量不超过90%时,仍具有较好的电性能;但含Ag量再继续增加,电性能逐渐变差,内电极为纯Ag时,电性能严重恶化.反映晶界势垒电容的电容量随含Ag量的增加而...
研究了低温烧结多层片式ZnO压敏电阻的Pd-Ag内电极中Ag扩散对电性能的影响.发现当含Ag量不超过90%时,仍具有较好的电性能;但含Ag量再继续增加,电性能逐渐变差,内电极为纯Ag时,电性能严重恶化.反映晶界势垒电容的电容量随含Ag量的增加而减小.伏安特性和复数阻抗分析表明,随着内电极中含Ag量增加,Ag扩散进入ZnO晶格加剧,降低了施主浓度,导致ZnO晶粒电阻过分增大,而使多层片式ZnO压敏电阻的电性能劣化.
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关键词
多层压敏电阻器
低温烧结
银扩散
晶粒
电阻
电性能
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职称材料
低温烧结多层片式ZnO压敏电阻内电极Ag含量对电性能的影响(英文)
2
作者
钟明峰
苏达根
+1 位作者
庄严
陈志雄
《广西大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
2005年第3期242-247,共6页
研究了低温烧成多层片式ZnO压敏电阻的内电极中Ag扩散进入ZnO晶格对电性能的影响.研究发现内电极中Ag含量严重影响低温烧结多层片式压敏电阻的电性能.当内电极含Ag量为70%时,具有最好的电性能;而内电极为纯Ag时,电性能最差,压敏电压和...
研究了低温烧成多层片式ZnO压敏电阻的内电极中Ag扩散进入ZnO晶格对电性能的影响.研究发现内电极中Ag含量严重影响低温烧结多层片式压敏电阻的电性能.当内电极含Ag量为70%时,具有最好的电性能;而内电极为纯Ag时,电性能最差,压敏电压和限制电压过分地升高,漏电流增大,非线性系数减小.反映晶界势垒电容的电容量随内电极中Ag含量的升高而减小.伏安特性和复数阻抗分析表明,随着内电极中Ag含量的升高,Ag扩散进入ZnO晶格加剧,降低了施主浓度Nd,导致ZnO晶粒电阻增大,以及晶界势垒高度和耗尽层宽度增加,使得多层片式ZnO压敏电阻的电性能变差.
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关键词
多层压敏电阻器
低温烧结
银含量
晶粒
电阻
电性能
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职称材料
题名
低温烧结多层片式ZnO压敏电阻内电极Ag扩散对电性能的影响
被引量：
4
1
作者
钟明峰
苏达根
庄严
陈志雄
机构
华南理工大学特种功能材料及其制备新技术教育部重点实验室
广州新日电子有限公司
广州大学物理与电子工程学院
出处
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第6期1373-1378,共6页
基金
广州市重点科技攻关项目(2002Z2-D0011)
文摘
研究了低温烧结多层片式ZnO压敏电阻的Pd-Ag内电极中Ag扩散对电性能的影响.发现当含Ag量不超过90%时,仍具有较好的电性能;但含Ag量再继续增加,电性能逐渐变差,内电极为纯Ag时,电性能严重恶化.反映晶界势垒电容的电容量随含Ag量的增加而减小.伏安特性和复数阻抗分析表明,随着内电极中含Ag量增加,Ag扩散进入ZnO晶格加剧,降低了施主浓度,导致ZnO晶粒电阻过分增大,而使多层片式ZnO压敏电阻的电性能劣化.
关键词
多层压敏电阻器
低温烧结
银扩散
晶粒
电阻
电性能
Keywords
multilayer chip varistor
low firing
sliver diffusion
grain resistance
electronic properties
分类号
TN304 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
低温烧结多层片式ZnO压敏电阻内电极Ag含量对电性能的影响(英文)
2
作者
钟明峰
苏达根
庄严
陈志雄
机构
华南理工大学特种功能材料及其制备新技术教育部重点实验室
广州新日电子有限公司
广州大学物理与电子工程学院
出处
《广西大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
2005年第3期242-247,共6页
文摘
研究了低温烧成多层片式ZnO压敏电阻的内电极中Ag扩散进入ZnO晶格对电性能的影响.研究发现内电极中Ag含量严重影响低温烧结多层片式压敏电阻的电性能.当内电极含Ag量为70%时,具有最好的电性能;而内电极为纯Ag时,电性能最差,压敏电压和限制电压过分地升高,漏电流增大,非线性系数减小.反映晶界势垒电容的电容量随内电极中Ag含量的升高而减小.伏安特性和复数阻抗分析表明,随着内电极中Ag含量的升高,Ag扩散进入ZnO晶格加剧,降低了施主浓度Nd,导致ZnO晶粒电阻增大,以及晶界势垒高度和耗尽层宽度增加,使得多层片式ZnO压敏电阻的电性能变差.
关键词
多层压敏电阻器
低温烧结
银含量
晶粒
电阻
电性能
Keywords
multilayer chip varistor
low firing
sliver diffusion
grain resistance
electrical properties
分类号
TN304 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
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1
低温烧结多层片式ZnO压敏电阻内电极Ag扩散对电性能的影响
钟明峰
苏达根
庄严
陈志雄
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005
4
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职称材料
2
低温烧结多层片式ZnO压敏电阻内电极Ag含量对电性能的影响(英文)
钟明峰
苏达根
庄严
陈志雄
《广西大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
2005
0
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职称材料
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