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用于多传感器坐标测量机探测误差评价的薄环规标准器
被引量：
9
1
作者
位恒政
王为农
+1 位作者
裴丽梅
郑庆国
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第3期521-525,共5页
设计了一种薄环规标准器,用于配有光学影像测头和接触式测头的多传感器坐标测量机的探测误差评价。该标准器兼有环规和二维平面标准圆的特征,孔的有效部分厚度为0.1 mm,圆度为0.5μm,可以满足大多数坐标测量机的校准需求,避免了普通标...
设计了一种薄环规标准器,用于配有光学影像测头和接触式测头的多传感器坐标测量机的探测误差评价。该标准器兼有环规和二维平面标准圆的特征,孔的有效部分厚度为0.1 mm,圆度为0.5μm,可以满足大多数坐标测量机的校准需求,避免了普通标准器如标准球、环规对影像测头测量成像的影响。该标准器同时适用于接触式测头测量,锥孔结构保证了标准器的稳定性,用于接触式测量时,不会引起变形。利用设计的薄环规标准器实现了配有光学影像测头和接触式测头组合测量系统的探测误差评价,结果表明该标准器有效解决了上述组合系统探测误差的校准问题。参照ISO10360-9标准,给出了多传感器组合测量系统的探测误差、尺寸测量误差以及位置误差,并利用坐标变换方法修正了位置误差,优化了系统参数。
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关键词
多传感器坐标测量机
影像
传感器
接触式
传感器
薄环规标准器
测量
不确定度
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职称材料
题名
用于多传感器坐标测量机探测误差评价的薄环规标准器
被引量：
9
1
作者
位恒政
王为农
裴丽梅
郑庆国
机构
中国计量科学研究院
出处
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第3期521-525,共5页
基金
中国计量科学研究院基本科研业务费专项资金资助项目(No.24-YZC1401)
文摘
设计了一种薄环规标准器,用于配有光学影像测头和接触式测头的多传感器坐标测量机的探测误差评价。该标准器兼有环规和二维平面标准圆的特征,孔的有效部分厚度为0.1 mm,圆度为0.5μm,可以满足大多数坐标测量机的校准需求,避免了普通标准器如标准球、环规对影像测头测量成像的影响。该标准器同时适用于接触式测头测量,锥孔结构保证了标准器的稳定性,用于接触式测量时,不会引起变形。利用设计的薄环规标准器实现了配有光学影像测头和接触式测头组合测量系统的探测误差评价,结果表明该标准器有效解决了上述组合系统探测误差的校准问题。参照ISO10360-9标准,给出了多传感器组合测量系统的探测误差、尺寸测量误差以及位置误差,并利用坐标变换方法修正了位置误差,优化了系统参数。
关键词
多传感器坐标测量机
影像
传感器
接触式
传感器
薄环规标准器
测量
不确定度
Keywords
multi-sensor coordinate measurement machine
imaging probe
touch probe
thin ring gauge artifact
measurement uncertainty
分类号
TH701 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
用于多传感器坐标测量机探测误差评价的薄环规标准器
位恒政
王为农
裴丽梅
郑庆国
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016
9
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职称材料
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