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外延缺陷对分布反馈半导体激光器可靠性的影响
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作者 张坤伟 焦梦丽 +1 位作者 曹晨涛 赵润 《中国标准化》 2021年第13期188-191,共4页
通过对分布反馈半导体激光器(DFB-LD)外延片缺陷密度、芯片反向电压以及芯片可靠性三者关联关系的分析,推断出芯片反向电压与芯片可靠性的相关性。设计并通过试验证实反向电压绝对值低的芯片可靠性差,而反向电压满足一定判定标准的芯片... 通过对分布反馈半导体激光器(DFB-LD)外延片缺陷密度、芯片反向电压以及芯片可靠性三者关联关系的分析,推断出芯片反向电压与芯片可靠性的相关性。设计并通过试验证实反向电压绝对值低的芯片可靠性差,而反向电压满足一定判定标准的芯片早期失效率低且长期可靠性良好。本文证明反向电压测试可以用于DFB激光器芯片的测试标准,作为DFB激光器芯片可靠性的有效筛选手段。 展开更多
关键词 分布反馈半导体激光器 反向电压 二次外延生长 外延缺陷密度 失效率
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ASM E2000硅外延片异常背圈现象研究与分析
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作者 徐卫东 肖健 +1 位作者 何晶 袁夫通 《电子与封装》 2024年第1期51-55,共5页
ASM E2000外延炉在生产硅外延片的过程中,晶圆背面有时会出现异常背圈的现象,包括背圈大小异常、背圈形状异常、背圈偏心等。经研究发现,背圈现象只会在非二氧化硅背封的晶圆上出现。针对异常背圈的产生,进行了滑片、气流、温度、时间... ASM E2000外延炉在生产硅外延片的过程中,晶圆背面有时会出现异常背圈的现象,包括背圈大小异常、背圈形状异常、背圈偏心等。经研究发现,背圈现象只会在非二氧化硅背封的晶圆上出现。针对异常背圈的产生,进行了滑片、气流、温度、时间等相关参数的实验验证,得到背圈形成的原因及异常背圈产生的原因。晶圆经900℃烘烤60 s就会形成背圈,这是外延过程中的正常现象,但是不规则的背圈通常伴随着其他外延工艺参数的同步变差,异常背圈可以通过调整工艺参数、设备滑片、跳片以及更换石墨件来解决。 展开更多
关键词 外延缺陷 背圈 晶圆背圈 ASM E2000外延
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基于国产单晶衬底的150 mm 4H-SiC同质外延技术进展
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作者 赵志飞 王翼 +3 位作者 周平 李士颜 陈谷然 李赟 《固体电子学研究与进展》 CAS 北大核心 2023年第2期147-157,共11页
高阻断电压、大功率密度、高转化效率是电力电子器件技术持续追求的目标,基于4H-SiC优异的材料特性,在电力电子器件应用方面具有广阔的发展前景。围绕SiC MOSFET器件对外延材料的需求,介绍了国内外主流的SiC外延设备及国产SiC衬底的发展... 高阻断电压、大功率密度、高转化效率是电力电子器件技术持续追求的目标,基于4H-SiC优异的材料特性,在电力电子器件应用方面具有广阔的发展前景。围绕SiC MOSFET器件对外延材料的需求,介绍了国内外主流的SiC外延设备及国产SiC衬底的发展,并重点介绍了宽禁带半导体电力电子器件国家重点实验室在国产150 mm(6英寸)SiC衬底上的高速外延技术进展。通过关键技术攻关,实现了150 mm SiC外延材料表面缺陷密度≤0.5 cm-2,BPD缺陷密度≤0.1 cm-2,片内掺杂浓度不均匀性≤5%,片内厚度不均匀性≤1%。基于自主外延材料,实现了650~1200 V SiC MOSFET产品商业化以及6.5~15 kV高压SiC MOSFET器件的产品定型。 展开更多
关键词 外延设备 单晶衬底 4H-SIC 同质外延 外延缺陷
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外延雾表面研究及设备改善 被引量:1
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作者 段路强 《科技创新与应用》 2018年第21期104-106,共3页
外延雾表面是一种常见的外延缺陷表现形式,在外延淀积后的硅片上,经常出现密集分布的雾缺陷,在器件工艺中,雾缺陷的存在会影响工艺器件的产品性能,因此硅片上的雾缺陷也成为了衡量外延层质量的一项重要参数。随着设备的更新和工艺的改进... 外延雾表面是一种常见的外延缺陷表现形式,在外延淀积后的硅片上,经常出现密集分布的雾缺陷,在器件工艺中,雾缺陷的存在会影响工艺器件的产品性能,因此硅片上的雾缺陷也成为了衡量外延层质量的一项重要参数。随着设备的更新和工艺的改进,不同的外延设备及工艺加工条件仍会有外延"雾"片的产生,对产品加工造成了困扰。文章中简要介绍了外延过程中产生发雾的原因,以理论和实践相结合的方式对外延雾缺陷的产生过程进行了试验验证,并提出了解决方式,通过增加外延炉氮气吹扫装置,隔离了外延设备关键部位与环境气体的接触,能有效降低设备自身的吸潮情况,减少外延过程中雾缺陷的形成。 展开更多
关键词 外延 表面发雾 外延缺陷 设备吸潮
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4H-SiC同质外延生长概述 被引量:1
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作者 杨霏 钮应喜 +8 位作者 钱卫宁 王嘉铭 王方方 冯淦 孙永强 李奕洋 李凯希 吕立平 黄杰 《智能电网》 2016年第4期351-354,共4页
SiC作为一种宽禁带半导体材料,在高温、高压和大功率应用领域具有巨大的应用潜力。首先对4H-SiC的材料性能、外延生长模式、掺杂浓度控制及外延缺陷进行简单介绍。其次,从产业化的角度重点对4H-SiC的浓度和缺陷进行研究,并提供一些最新... SiC作为一种宽禁带半导体材料,在高温、高压和大功率应用领域具有巨大的应用潜力。首先对4H-SiC的材料性能、外延生长模式、掺杂浓度控制及外延缺陷进行简单介绍。其次,从产业化的角度重点对4H-SiC的浓度和缺陷进行研究,并提供一些最新的工艺技术和外延结果:外延掺杂浓度一致良好;致命缺陷的密度总和低于0.5个/cm^2。这些介绍有利于增强人们对4H-SiC外延生长的认识和了解。 展开更多
关键词 4H-SIC 同质外延 浓度控制 外延缺陷
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