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光学薄膜参数测试
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《中国光学》 EI CAS 2002年第2期77-77,共1页
O484.5 2002021353极化高聚物薄膜复电光系数的测量方法研究=Studyof measurement of complex electro - optic coeffi-cients of poled dye - doped polymer films using aMach - Zehnder interferometer[刊,中]/程晓曼(天津理工学院... O484.5 2002021353极化高聚物薄膜复电光系数的测量方法研究=Studyof measurement of complex electro - optic coeffi-cients of poled dye - doped polymer films using aMach - Zehnder interferometer[刊,中]/程晓曼(天津理工学院光电信息与电子工程系.天津(300191)) 展开更多
关键词 极化高聚物薄膜 复数电光系数 光学薄膜 方法研究 数字散斑相关测量 光电信息 电子工程 参数测试 问题研究 天津
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