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高阻值纳米薄膜材料的热电特性测量
被引量：
1
1
作者
蔡浩原
崔大付
+2 位作者
李亚亭
张璐璐
陈兴
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014年第7期1794-1799,共6页
为了实现高阻值纳米薄膜材料的热电系数测量,搭建了一套塞贝克系数测量系统。研究了该系统的温控精度和温差生成机制并测量了高阻值条件下微弱电压。首先,建立了高真空度和带有多重电磁屏蔽的真空测试环境;然后,设计了高稳定度温差控制...
为了实现高阻值纳米薄膜材料的热电系数测量,搭建了一套塞贝克系数测量系统。研究了该系统的温控精度和温差生成机制并测量了高阻值条件下微弱电压。首先,建立了高真空度和带有多重电磁屏蔽的真空测试环境;然后,设计了高稳定度温差控制平台,以便为测试样品提供可控温差;同时根据高阻条件下的微弱电压的检测要求,消除了检测通道的漏电流和分布电容的影响。最后,提出了一种循环温差的测量方法,用于有效去除分布电容引起的塞贝克电压长期漂移。采用该方法对高阻值的有机半导体材料进行了塞贝克系数的测定,结果显示:阻值高达7×1012Ω的有机薄膜材料的塞贝克系数的测量精密度<2%,温度控制精度为±0.001K。得到的结果表明,该系统能够实现对样品阻值高达1012Ω的纳米薄膜材料的塞贝克系数的测量。
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关键词
热电材料
纳米薄膜材料
塞贝克系数测量
电压
测量
温度控制
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职称材料
题名
高阻值纳米薄膜材料的热电特性测量
被引量：
1
1
作者
蔡浩原
崔大付
李亚亭
张璐璐
陈兴
机构
中国科学院电子学研究所传感技术国家重点实验室
出处
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014年第7期1794-1799,共6页
基金
中国科学院研究资助项目(No.KGCX-EW)
文摘
为了实现高阻值纳米薄膜材料的热电系数测量,搭建了一套塞贝克系数测量系统。研究了该系统的温控精度和温差生成机制并测量了高阻值条件下微弱电压。首先,建立了高真空度和带有多重电磁屏蔽的真空测试环境;然后,设计了高稳定度温差控制平台,以便为测试样品提供可控温差;同时根据高阻条件下的微弱电压的检测要求,消除了检测通道的漏电流和分布电容的影响。最后,提出了一种循环温差的测量方法,用于有效去除分布电容引起的塞贝克电压长期漂移。采用该方法对高阻值的有机半导体材料进行了塞贝克系数的测定,结果显示:阻值高达7×1012Ω的有机薄膜材料的塞贝克系数的测量精密度<2%,温度控制精度为±0.001K。得到的结果表明,该系统能够实现对样品阻值高达1012Ω的纳米薄膜材料的塞贝克系数的测量。
关键词
热电材料
纳米薄膜材料
塞贝克系数测量
电压
测量
温度控制
Keywords
nano-film material thermoelectric material Seebeck coefficient measurement voltage measurement temperature control
分类号
O484.5 [理学—固体物理]
TB383 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
高阻值纳米薄膜材料的热电特性测量
蔡浩原
崔大付
李亚亭
张璐璐
陈兴
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014
1
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职称材料
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