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题名考虑时间因素的不同基本门故障概率计算
被引量：2
- 1
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作者
肖杰
江建慧
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机构
同济大学软件学院
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出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第4期666-673,共8页
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基金
国家自然科学基金(No.60903033)
国家973重点基础研究发展计划(No.2005CB321604)
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文摘
在门级电路的可靠性概率评估方法中,基本门的故障概率p一般人为设定或以常数形式出现.考虑到不同基本门的故障概率具有随时间变化的特性并结合其输入导线,本文构建了考虑输入负载的随时间变化的不同基本门的故障概率模型.理论分析与实验结果表明,基于弱链接模型的双峰对数正态分布更适合用来表示输入导线故障概率的时间分布.用本文方法、美国军用标准MIK-HDBK-217及Monte Carlo方法计算了ISCAS85基准电路的可靠度并进行了比较,还通过了行业标准的检验,结果验证了本文所构建模型的合理性.
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关键词
时间因素
输入负载
输入导线
CMOS器件
不同基本门的故障概率
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Keywords
time factor
input load
input-interconnect
CMOS device
the fault probability of different elementary gates
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分类号
TP331
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名结合版图结构信息的基本门电路故障概率估计
被引量：6
- 2
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作者
肖杰
江建慧
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机构
同济大学计算机科学与技术系
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出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第2期235-240,共6页
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基金
国家科技部973计划(No.2005CB321604)
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文摘
在门级电路可靠性估计方法中,基本门的故障概率P一般采用经验值或人为设定.本文结合基本门的版图结构信息,综合考虑了设计尺寸及缺陷特性等因素,分析了不同缺陷模型下的粒径分布数据,给出了缺陷模型粒径概率密度分布函数的参数c的计算算法,并推导出了P的计算模型.理论分析与在ISCAS85及74系列电路上的实验结果表明,缺陷的分段线性插值模型能较准确地描述电路可靠性模型的低层真实缺陷.对ISCAS85基准电路采用本文方法所得到的电路可靠度与采用美国军用标准MIL-HDBK-217方法所得到的计算结果进行了比较,验证了本文所建P模型的合理性.
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关键词
缺陷模型
缺陷粒径概率分布
版图结构信息
基本门故障概率
门级电路可靠性评估
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Keywords
defect model
probability distribution of defect size
layout structure information
fault probability of elementary gate
evaluation of gate-level circuit reliability
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分类号
TP331
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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