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Ku波段0.9m动中通天线罩插入损耗的均匀性测量 被引量:1
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作者 陈辉 秦顺友 《现代电子技术》 北大核心 2016年第1期65-67,共3页
插入损耗是天线罩的重要性能指标之一。简述了Ku波段0.9 m动中通天线罩的基本特性。介绍了远场法测量天线罩插入损耗的原理方法。提出了转动天线罩方位,抬高座架以改变天线夹板角,实现天线罩插入损耗均匀性测量。最后给出了Ku波段0.9 m... 插入损耗是天线罩的重要性能指标之一。简述了Ku波段0.9 m动中通天线罩的基本特性。介绍了远场法测量天线罩插入损耗的原理方法。提出了转动天线罩方位,抬高座架以改变天线夹板角,实现天线罩插入损耗均匀性测量。最后给出了Ku波段0.9 m动中通天线罩插入损耗测量结果,测量结果同理论预算基本吻合。 展开更多
关键词 KU波段 天线罩 插入损耗 均匀性测量
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辐射源红外均匀性测量仪的研制
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作者 顾名澧 《航天返回与遥感》 2003年第3期19-23,共5页
文章简要阐述红外均匀性测量仪的主要技术要求、工作原理和设计。设计中采用模块化组成方式 ,由两维精密位移及其测量装置、控制系统、前测光系统、光电测量系统。
关键词 资源一号卫星 辐射源 红外均匀性测量 光学测量 工作原理 设计 红外多光谱扫描仪
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光学玻璃光学均匀性的绝对测量技术 被引量:14
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作者 郭培基 余景池 +1 位作者 丁泽钊 孙侠菲 《激光杂志》 CAS CSCD 北大核心 2003年第3期26-27,共2页
光学玻璃的光学均匀性的测量是制造高质量光学玻璃的保证 ,本文详细介绍了三种用于测量光学玻璃光学均匀性的绝对测量方法 ,并利用其中的一种方法研制了一台高精度光学玻璃材料光学均匀性测量仪 ,实验结果表明其对 40mm左右厚光学玻璃... 光学玻璃的光学均匀性的测量是制造高质量光学玻璃的保证 ,本文详细介绍了三种用于测量光学玻璃光学均匀性的绝对测量方法 ,并利用其中的一种方法研制了一台高精度光学玻璃材料光学均匀性测量仪 ,实验结果表明其对 40mm左右厚光学玻璃材料的光学均匀性检测精度可达 1× 10 - 6 。 展开更多
关键词 光学玻璃 绝对测量方法 光学均匀性测量 干涉检测 检测丰青度
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液晶投影显示颜色均匀性的测量及校正系统 被引量:4
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作者 陈颖 李海峰 刘旭 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2004年第12期43-45,49,共4页
根据二维面阵 CCD 能够快速采集二维图像的特点,提出了一套由视频测试信号发生器、投影屏幕、CCD 摄像机和计算机组成的液晶投影显示颜色均匀性测量及校正系统。该系统利用面阵 CCD 对液晶投影图像三色分量的二维亮度分布进行分时测量,... 根据二维面阵 CCD 能够快速采集二维图像的特点,提出了一套由视频测试信号发生器、投影屏幕、CCD 摄像机和计算机组成的液晶投影显示颜色均匀性测量及校正系统。该系统利用面阵 CCD 对液晶投影图像三色分量的二维亮度分布进行分时测量,并根据测量及分析得到的校正数据对输出的三色亮度比例进行修正,实现了对液晶投影显示系统颜色均匀性的校正。实验表明,校正后屏幕上各个区域的色坐标和平均色坐标的偏差的标准差为 5.23×10-4,仅为校正前的 10.46%,色均匀度提高了一个量级。 展开更多
关键词 液晶投影显示 颜色测量 均匀性测量 校正系统
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用于薄膜厚度均匀性监测的^(147)Pm-β源设计
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作者 张洁 徐家云 +1 位作者 陈秀莲 王芳娜 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2013年第2期202-206,共5页
β射线束已被广泛用于工业上纸张、铝箔等薄膜生产中厚度均匀性的在线监测,为提高监测的精细程度和准确度,需要用束斑小、强度高、含韧致辐射少的β粒子束。对此,采用蒙特卡罗EGS5程序,对147Pm-β源的结构和尺寸进行了优化模拟计算设计... β射线束已被广泛用于工业上纸张、铝箔等薄膜生产中厚度均匀性的在线监测,为提高监测的精细程度和准确度,需要用束斑小、强度高、含韧致辐射少的β粒子束。对此,采用蒙特卡罗EGS5程序,对147Pm-β源的结构和尺寸进行了优化模拟计算设计。在将源结构设计成由内向外依次为147Pm-β源、铝和铅屏蔽层的情况下,模拟计算结果表明:对一定横截面积的147Pm-β源芯,β束流强度随源芯厚度增加而增大,在厚度为25 mg/cm2时达到饱和;穿出β源屏蔽体的韧致辐射强度随铝和铅屏蔽层的增厚减小,当铝和铅层厚度分别大于0.3 mm和0.8 mm时,辐射强度为最小。 展开更多
关键词 147Pm-β放射源 薄膜厚度均匀性测量 蒙特卡罗计算
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一种显示屏色度均匀性快速精确测试方法 被引量:3
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作者 王明刚 李志能 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2004年第10期36-38,42,共4页
提出一种新型的色度均匀性测试方法,它主要是利用CCD成像系统拍摄显示屏白场画面,通过图像采集卡把画面的RGB三刺激值存入计算机,然后根据色度学定义和有关标准进行计算和处理,把处理后的结果用三维图显示。其特点是既可以快速直观地显... 提出一种新型的色度均匀性测试方法,它主要是利用CCD成像系统拍摄显示屏白场画面,通过图像采集卡把画面的RGB三刺激值存入计算机,然后根据色度学定义和有关标准进行计算和处理,把处理后的结果用三维图显示。其特点是既可以快速直观地显示测试区域的色差变化,又能定量地得出显示屏任意位置的色差量。实验证明该方法的测试误差小于5%。 展开更多
关键词 色度测量 均匀性测量 CCD成像系统 信号处理
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光电子技术与器件 光显示与显示器件
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《中国光学》 CAS 2005年第2期73-74,共2页
TN141 2005021352 显示器件发展趋势=Development trends of display devices [刊,中]/阎璋(华东电子集团公司.江苏,南京(210028)) //光电技术.-2004,45(4).-33-36,50 介绍了当今市场各种显示器的研发现状和发展趋势 以及销售情况。... TN141 2005021352 显示器件发展趋势=Development trends of display devices [刊,中]/阎璋(华东电子集团公司.江苏,南京(210028)) //光电技术.-2004,45(4).-33-36,50 介绍了当今市场各种显示器的研发现状和发展趋势 以及销售情况。图2参1(杨妹清) TN141.9 2005021353 液晶投影显示颜色均匀性的测量及校正系统=Measure-meat and correction system of color uniformity of liquid crystal projection display[刊。 展开更多
关键词 光电子技术 投影显示器 平板显示技术 液晶投影显示 光电技术 显示器件 均匀性测量 放电单元 电子工程 光电平板显示器
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