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题名X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素
被引量：2
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作者
翟秋福
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机构
云南省地矿局测试中心
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出处
《岩矿测试》
CAS
1987年第2期113-115,I0006,共4页
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文摘
岩石化探样中主要和痕量元素的测定,目前多半以ICP或XRF法为主,二种测试手段各有优势。本文应用8680X-射线光谱仪测定氧化镁,氧化铝,氧化硅,磷,氧化钾,氧化钙,氧化铁,氧化钠,钛,锰,锌,钒,铬,铷,铌,钇,锶,锆等元素。8680型系顺序/多道复合式X-射线光谱仪。试验证明,本方法简易、快速,结果满意。方法的变动系数最大为14.24%(Nb=15ppm),最小为0.01%(SiO=77.27%)。
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关键词
痕量元素
地质化探样
变动系数
氧化钾
氧化钠
XRF法
光谱仪
氧化硅
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分类号
O65
[理学—分析化学]
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